NI 以PXI 架構的STS pk 傳統ATE
前言：
開放的平台式方案結合了模組化儀器與系統設計軟體，適用於 RF 和混合式訊號生產測試，像是IDT已經運用STS來降低測試成本。
PXI模組領導廠商NI美商國家儀器在今年SEMICON Taiwan期間推出 NI 半導體測試系統 (Semiconductor Test System，簡稱 STS) 系列。基於 PXI 架構的自動化測試系統，針對半導體生產測試環境的 PXI 模組，有助於降低 RF 和混合式訊號裝置的測試成本。相較於傳統的半導體自動化測試設備 (ATE)，STS 先期使用者都證實了 STS 有助於降低生產成本、提高產能，而且還可以透過相同的硬體和軟體工具，同時執行特性測試與生產作業。這樣一來即可更快建立資料關聯並縮短上市時間。
不同於傳統 ATE 的封閉式架構，STS 具有開放式的模組化架構，可協助工程師運用先進的 PXI 儀器。這對 RF 和混合式訊號測試而言尤其重要，因為傳統 ATE 的測試範圍通常無法滿足最新半導體技術的需求。STS 搭載 TestStand 測試管理軟體和 LabVIEW 系統設計軟體，針對半導體生產環境提供了豐富的功能組合，包含可客制化的操作介面、分類機/針測機整合、裝置為主的程式設計和針腳-通道配置、標準測試資料格式報表製作、整合式多地點支援等等。有了這些功能，工程師即可迅速開發測試程式、加以除錯並完成佈署，縮短整體的上市時間。此外 STS 還配備了全封閉式的「零佔用空間」測試頭、標準銜接與連結機構，可立即整合至半導體生產測試單元。
STS 系列提供三種不同的機型：T1、T2、T4，分別容納了 1、2、4 個 PXI 機箱。這些尺寸選項，再加上所有 STS 機型通用的軟體、儀控和互連機構，可協助工程師充分滿足不同的針腳和地點數量需求。此外，便於擴充的 STS 還可以佈署至特性測試甚至是生產環境，藉此優化成本效益、大幅簡化建立資料關聯的程序，進而縮短上市時間。
為了協助客戶順利達成目標，NI 提供豐富的教育訓練、產品與服務，同時還有全球 NI 工程專家和 NI 聯盟夥伴的強力支援。
STS 系列提供三種不同的機型：T1、T2、T4，分別容納了 1、2、4 個 PXI 機箱。這些尺寸選項，再加上所有 STS 機型通用的軟體、儀控和互連機構，可協助工程師充分滿足不同的針腳和地點數量需求。此外，便於擴充的 STS 還可以佈署至特性測試甚至是生產環境，藉此優化成本效益、大幅簡化建立資料關聯的程序，進而縮短上市時間。
為了協助客戶順利達成目標，NI 提供豐富的教育訓練、產品與服務，同時還有全球 NI 工程專家和 NI 聯盟夥伴的強力支援。
