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寬能隙製程難度高、層層都珍貴!「非破壞式檢測」受青睞

本文作者:任苙萍       點擊: 2023-02-14 14:12
前言:
由陽明交通大學和國科會主辦、國際半導體產業協會 (SEMI) 及筑波科技 (ACE Solution) 協辦的「化合物半導體產業交流研討會」,針對第三類半導體——碳化矽 (SiC)、氮化鎵 (GaN) 等寬能隙 (WBG) 的前景與測試有精闢論述。
 
照片人物 (左起):盛新材料科技虞邦英、鴻海研究院半導體研究所組長蕭逸楷、陽明交大光電工程研究所教授郭浩中、筑波科技董事長許深福、GaN Systems 副總經理莊淵棋、磊拓科技總經理李文中、筑波科技業務專案經理謝易錚、SEMI 資深經理呂玉文

SiC 當今市況&產業挑戰
主辦方代表陽明交大光電工程研究所教授郭浩中揭示,牽引逆變器 (Traction Inverter)、汽車板載充電 (OBC)、DC/DC 轉換器三大領域,正積極從絕緣柵雙極電晶體 (IGBT) 轉向 SiC,尤其 OBC 主流已是 SiC 的天下。GaN Systems 副總經理莊淵棋認為,受到數位經濟、電子化與節能需求帶動,寬能隙半導體將是大勢所趨。以汽車板載充電為例,當操作頻率從原有 50~60kHz 提升至 100kHz,SiC 在開關損耗 (Switching Loss) 和電力傳導損耗 (Power Conduction Loss) 之於原有矽基元件,明顯佔上風。

鴻海研究院半導體研究所組長蕭逸楷就製程成本觀點拆解,晶圓部分就佔了四到五成,其中,又有 45% 皆花費在基板 (Substrate),且源於長晶、製造或封裝過程的缺陷,致使產量損失 (Yield Loss) 高達 30%;再往下到模組,依然還可能產生良率損失。他統整目前 SiC 產業面臨的挑戰有:長晶環境嚴苛、關鍵材料掌握在國外大廠手上、需要高速檢測及缺陷演算分析輔助——因為一旦上游晶圓產生缺陷,會一路轉移到下游模組且形式多樣,將嚴重衝擊最終元器件的效能表現。

盛新材料科技虞邦英表示,SiC 長晶時間十分漫長,一是由於碳化矽非天然原料,須經由合成獲得;二是可能產生逾 200 種晶態,如何從中取出最適用的 4H-SiC,難度極高;三是它屬於氣相生長,由基板磊晶 (Epitaxy) 一層一層堆疊而成,但每層磊晶厚度只有 0.2~100μm,要生長到 20,000μm 的每片晶圓目標值,其間變數甚多。她指出,自有專利、熱場模擬、實作數據庫是長晶致勝三寶;至於「擴晶」,又是另一門學問。這些,亟需仰賴「非破壞式檢測」相助。

材料影響大、製程缺陷多!太赫茲&高壓檢測成必備法寶
研討會主持人磊拓科技總經理李文中統整,SiC 原子差距大,製程控制相較於傳統矽基元件難得多。其中,材料品質影響甚鉅,而目前對缺陷 (defect) 的認識還在逐步探索中,此時,檢測、分析工具相對重要。有鑑於此,非接觸、非破壞性量測就顯得至關重要。筑波科技副總經理陳治誠透露,目前光學只能檢測 10μm 的深度,只能磨掉一點表面或切片才能繼續往下檢測瑕疵;但太赫茲 (Terahertz, THz) 探測能利用穿透、反射,在不損耗生成不易之晶圓的情況下取得影像掃描原始資料,並進一步做時域訊號波比較、晶圓厚度分佈以及結構特性等數據分析。

筑波科技業務專案經理謝易錚說明,寬能隙半導體已快速滲透消費電子電源充電器、車用板載充電、工業/不斷電系統 (UPS)、大功率電力系統等範疇。其中,電動車載應用更是備受矚目。筑波與美商泰瑞達 (Teradyne) 合作推廣的 Eagle Test System (ETS) 測試整合方案涵蓋電池管理系統、DC/DC 轉換器、分離式 MOSFET/IGBT 元件或模組,有三大系列:針對低腳數元件測試的 ETS-88、面向高腳數數位及混合訊號應用的 ETS-364,以及對應更高電壓或高電流、通道數和吞吐量,具有全功能測試範圍並提供汽車級測試的 ETS-800。

ETS 軟體另有兩個獨到之處,可大幅縮短測試時間:一是可針對用戶不同電壓、電流等任務測項提供一個整合式的測試型態,可減少測試機台與待測物之間往返;二是可提供更長的時間軸,方便優化測試程序。筑波租賃營運副總黃瑞堅表示,除了基礎儀器外,還需要一些能量測高電壓半導體的特殊設備支援。但這些設備所費不貲,每台動輒數千萬台幣起跳,景氣波動劇烈時對廠商是不小的負擔;此時,租賃或租轉買就成了變通的替代選項。好處包括:只需按期均列費用,無須承擔一筆龐大支出的財務壓力,也不必認列成資產而須攤提折舊,有損每股盈餘。

SiC 效能存在操作頻率上限!GaN 長遠更具潛力
值得注意的是,就遠景而言,GaN Systems 更看好 GaN 的未來。莊淵棋直言,當操作頻率來到 120~150kHz 時,SiC 效能將出現停滯,開始顯得力有未殆;當挺進 150kHz 以上,則只有 GaN 能勝任,依舊可維持非常小的開關損耗。未來板載充電操作頻率將繼續上看 200kHz、500kHz,若加計電感、電容等被動元件成本,從系統層級來看,SiC 的整體物料清單成本 (BOM Cost) 將極為可觀,屆時 GaN 可望脫穎而出。他補充,現行 OBC 是 6kW 為主,未來將以 11kW、甚至是 22kW 為主,為了縮小變壓器尺寸,最好的方式就是拉高操作頻率。

其次,若不考慮開關損耗問題,牽引逆變器的 50~60kHz 操作頻率用來因應 250km/h 時速,已綽綽有餘;但實際狀況是:日常駕駛汽車多是間歇性地踩油門,由此所產生的開關損耗極大。「這個踩放過程可能佔據 99% 行駛時間,GaN 優勢將再下一城。若考慮到行駛場景,主打城市遊走的小汽車,將來可能傾向採用 GaN」,莊淵棋說。就他了解,目前承接汽車動力模組的外包廠,已開始雙軌並行發展 SiC 與 GaN。再就 DC/DC 轉換器論斷,SiC 在 600V 以下並無利基,而 GaN 在超過 1200V 以上亦無機會;重點在於:不同應用場域,材料選擇亦不同。

一般來說,傳統汽車電源是採「功率因數校正控制器+諧振控制器」(PFC+LLC) 兩階架構,若電池是 800V、但 DC/DC 轉換器是 650V 時又該如何?改架構或許是最佳解。莊淵棋解釋,將原有兩階架構改成三階,可改善壓降和電磁干擾 (EMI) 問題。雖然須多出一組電晶體、控制器和驅動器的成本,但整體 BOM Cost 仍具吸引力。最後,寬能隙可為用電量驚人的資料中心大幅降低 10% 能量損耗,進而降低營運成本。歐盟已明令將資料中心轉換效率從 94% 拉高到 96%,業者只有採改 GaN 才能達標,若考慮到功率密度更是如此,且能省下更多機架空間。
 

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