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洞悉您的挑戰

本文作者：R&D Engineer/Stephan       點擊： 2015-08-13 13:27
前言：
 
隨著每一代DDR SDRAM 相繼問世，不但速度變得更快，封裝尺寸和耗電量也隨之降低。然而，在效能提升的同時，更多新的挑戰也應運而生，例如設計餘裕度更嚴格、信號完整度對於裝置效能的影響更嚴峻，以及進行量測時探量空間變得更小。是德科技DDR 工程師現正設計下一代DDR 記憶體標準及解決方案。
 

圖：Keysight DDR 設計及測試解決方案

 

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