TOF MS簡介
質譜測定(MS)為一種根據分子量對樣品中已知/未知分子進行量化的分析技術。先將樣品中的元素和/或分子電離成具有或不具有碎片的氣態離子，然後在品質分析儀中將其分離，如此便可以透過質譜中的質荷比(m/z，或脈衝的位置)及相對豐度(或脈衝的幅度)來表徵元素和/或分子。
質譜儀有三個主要組件：用於從被測樣品中產生氣態離子的離子源，根據m/z比分離離子的品質分析儀，以及用於檢測離子和每種離子相對豐度的離子檢測器。檢測器輸出經過處理和數位化處理後，產生質譜。目前有多種品質分析器採用完全不同的策略來分離不同m/z值的離子1。圖1顯示了四極桿和TOF MS的主要模組。
圖1:四極桿和TOF MS的主要模組
