在依據工業功能安全標準進行合規評估時，對安全相關系統的零組件可靠性進行預測非常重要。預測結果通常以「給定時間內的失效次數」(FIT)表示，FIT是安全性分析的重要依據，用於評估系統是否達到目標安全完整性等級。業界有多個零組件失效率資料庫，可供系統整合商參考使用。本文討論了預測積體電路(IC)失效率的三種常用技術，並介紹ADI的安全應用筆記如何提供此類失效率資訊。
為什麼需要可靠性預測？
失效率或基本失效率是指產品在有效壽命期內單位時間的預期失效頻次，通常以FIT (十億小時內發生一次失效)為單位。圖1顯示了電子零組件失效的可靠性浴盆曲線模型，可分為三個階段：早期失效階段、有效壽命或穩定工作期間隨機失效階段、磨損老化失效階段。本文則是重點關注零組件有效壽命期內的失效率。
圖1:可靠性浴盆曲線
