當前位置: 主頁 > 技術分類0 > IC技術0 > 封裝/測試0 >
 

科利登將在2006年度 SEMICON China 展出Sapphire D-10系統

本文作者:admin       點擊: 2006-03-21 00:00
前言:
為世界半導體工業提供從設計到生產測試解決方案的領先供應商——科利登系統有限公司 (Credence Systems Corporation,納斯達克代碼為CMOS)日前宣佈:將在2006年3月21日至23日參展2006年度SEMICON China展會。該展會是半導體設備、材料和服務供應商加強在亞太及中國地區商業合作的極好機會。 為了滿足中國消費類電子市場的快速增長,科利登將展出她的高量產混合信號測試產品系列以及設計階段精確快速的失效分析產品系列。這些解決方案能幫助半導體生產商提高產品質量和良率,並明顯地縮短了產品上市時間,減少總體成本。科利登將在SEMICON China詳細介紹以下產品:

Sapphire D-10 
        Sapphire™ D-10平臺剛剛榮獲了由<<測試測量世界>>授予的“最佳測試獎”的獎項,她是一款革新的高產能、多功能圓片和封裝測試解決方案,特別為微控制器、無線基頻、顯示驅動及低成本消費類混合信號晶片測試市場的低成本需求而設計。她還能對應200Mbps的高速圓片測試市場,支持高度的並行測試。系統的採用模組化設計結構,可靈活配置,最多能支援768個數位通道,並配備高密度的類比和混合信號儀器,而其成本只有競爭機型的一半左右。

完整的失效分析實驗室方案 
         科利登完整的65nm器件實驗室失效分析方案包括發射顯微鏡,具有時序精度的發射技術,鐳射掃描顯微鏡以及電路編輯等多種工具和設備。她還包括了相應的軟體工具,把所有以上這些失效分析設備以及設計調試硬體方法集成為一個簡單易用,高效方便的實驗室偵錯分析方案,滿足當今先進器件開發的需要。事實證明,科利登的完整實驗室是一套高投資回報的整體方案,她通過優化和提高整個產品質量來提高產品的良率和可靠性。通過其強大的缺陷定位能力,該方案能減少產品開發過程中的工程和光罩費用,並大大增加新產品搶佔第一市場的機會。通過快速和精確的關鍵缺陷分析,科利登的完備失效分析實驗室解決方案能加速產品的上市,同時還能通過優化設計的特徵參數降低生產中所需的裕量。

Falcon 
科利登的Falcon™系列能提供獨特的類比、DSP和數位功能,專門用於汽車電子、高級類比及電源類晶片的測試。Falcon能提供很高的產能,她擁有每個通道的200MHz數字控制器。通過其電腦與測試儀間的高速介面,以及並行、多端點和同時測試能力,Falcon能明顯減少測試的成本。Falcon的設計理念是把數位測試,類比儀器,大電壓大電流能力和先進的DSP技術等集成為一個單一系統。DSP儀器系列能提供一個大範圍的混合信號測試能力,其動態特性能達到200MS/s,並能支持最大為20位的高精度,能很好滿足像汽車電子,智慧電源,資料轉換等多種應用的並行測試。

電子郵件:look@compotechasia.com

聯繫電話:886-2-27201789       分機請撥:11