安捷倫科技（Agilent Technologies Inc.）日前發表業界首款數位射頻 DigRF V4測試解決方案，它為射頻積體電路（RF-IC）和基頻IC（BB-IC）開發者及無線手機整合人員，提供了完整的激發與分析能力。
由MIPI（行動產業處理器介面）聯盟所推動的DigRF V4，是介於行動基頻與RF晶片間的一種高速數位串列匯流排，對LTE與WiMAX來說是很重要的一項促成科技。
像DigRF V4這類“跨域”（cross-domain）測試，可針對從個別的數位位元一直到IQ調變的RF信號提供新的洞察力。安捷倫的測試解決方案可讓工程師在他們選擇的領域（數位或RF）和抽象層級（實體或協定層）工作，以便迅速地對RF-IC進行特性描述及解決跨域整合的問題。
安捷倫數位無線測試解決方案將DigRF V4激發與協定分析工具，整合到安捷倫受歡迎的數位、RF與無線儀器中。新的安捷倫RDX（無線數位跨域）測試儀包含兩款新的模組，分別是Agilent N5343A模擬器模組和N5344A分析模組，其可安裝在安捷倫小型的模組式N2X主機中使用。模組式結構是為了配合未來的MIMO設計而打造的。
Agilent E5345A和E5346A主動式探測解決方案具備超低的電容性負載（小於0.15 pF）和絕佳的靈敏度，可讓您以DigRF V4測試的十億位元（gigabit）速度，在最小的干擾下洞察系統問題。設計工程師可以選擇採用Soft Touch技術的安捷倫新款N5345A Midbus探棒，在原型電路板上快速地探測，或選擇E5346A浮動導線探測解決方案，在空間狹窄的設計中輕鬆地監測DigRF V4鏈路。
這款解決方案同時支援DigRF V4和V3規格，因此也能保障使用者的投資。測試軟體環境提供協定產生與分析能力，並與業界領先的安捷倫Signal Studio軟體和89600向量信號分析軟體達到相互操作性。使用熟悉且支援DigRF模擬器和分析模組以及信號分析儀和信號源的向量信號產生與分析軟體，可為RF工程師節省寶貴的時間。
安捷倫數位測試部門副總裁暨總經理Siegfried Gross表示：「這款DigRF V4解決方案使RFIC工程師和系統整合人員在開發他們的4G行動產品時，能夠以最快的速度來洞察跨域問題。安捷倫的數位串列協定與無線測試產品，可讓客戶利用一套完美整合到無線使用模型（wireless use model）的新工具，將行動裝置的結構轉變成數位技術。」
安捷倫無線業務部副總裁暨總經理Ron Nersesian指出：「隨著WiMAX和LTE技術的發展，將數位與無線領域加以整合，並透過測試標準來達到相互操作性是絕對必要的。我們利用在這兩個領域的專業技術，提供一款結合兩個領域的完整解決方案，讓工程師從行動手機設計的啟始（turn-on）到整合階段都充滿著信心。」
有關安捷倫DigRF V4測試解決方案的詳細資訊，請上網查詢www.agilent.com/find/digrf 。
有關DigRF技術和安捷倫DigRF解決方案的背景資料，請造訪www.agilent.com/find/digrf_backgrounder網站。
DigRF小檔案
高速DigRF V4規格已發展成行動BB-IC與RF-IC之間的新一代串列介面，因為它可以消除晶片間的通訊瓶頸。此項技術支援採用LTE和WiMAX等空中介面標準的高頻寬行動系統。
