2009 安捷倫電子零組件設計暨量測研討會三月登場

本文作者:admin       點擊: 2009-02-19 00:00
前言:
台灣安捷倫科技將於2009年3月17~18日於台北、 新竹、高雄等地舉辦『2009 安捷倫電子零組件設計暨量測研討會』,該研討會為一免費研討會,會中將針對當前元件設計與量測相關等熱門主題有所討論。

台灣的通訊及資訊產業近年來蓬勃發展,高性能主/被動電子元件及優異的量產能力對於相關產品全球市佔率之不斷提升有著居功厥偉的貢獻,其所衍生出來的元件設計、量測及系統驗證解決方案無疑是所有先進及工程師們非常重視的主題。另外會場將有多項應用解決方案實機展示,並邀請合作廠商Maury(雋儀代理),STAr思達科技及Pentad汎達科技一同參展共襄盛舉,期能藉此與產官學先進分享經驗,協助國內元件製造商克服目前量測技術上的嚴峻挑戰以提升國際競爭力。

研討會議題包含一般主被動元件量測、多埠元件量測、Cable符合性測試、MIMO天線設計、信號完整性驗證、最新校正技術、功率元件與電子裝置之電源設計、非線性元件分析與建模、材料測試、半導體奈米及MEMS相關應用等。歡迎踴躍報名參加!詳細活動資訊請瀏覽網站 www.agilent.com.tw/find/events 或來電安捷倫客戶服務中心(0800-047866)並註明活動代號MC#19281。

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