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NI推出PXIe-5162示波器及LabVIEW抖動分析工具組

本文作者:NI 美商國家儀器       點擊: 2013-02-04 23:57
前言:

2013131--NI 美商國家儀器推出 NI PXIe-5162 示波器,以及 LabVIEW 抖動分析 (Jitter Analysis) 工具組的最新資訊。這款示波器具有 10 位元的垂直解析度,取樣率則是 5 GS/s,因此相較於傳統的 8 位元示波器,高速量測的垂直解析度可增加 4 倍之多。NI PXIe-5162 的單一插槽具有 1.5 GHz 的頻寬與 4 個通道,極適合多通道數的示波器系統,可用來製造測試、研究、裝置特性描述。LabVIEW 與 LabVIEW 抖動分析工具組可搭配這款示波器一起使用,此工具組具備最佳化的函式庫,可針對自動化的檢驗/生產測試環境,執行高傳輸率的抖動、眼圖 (eye diagram) 與相位雜訊量測作業。

 
「NI PXIe-5162 示波器可執行高速、高解析度、多通道數的量測作業,當傳統示波器的客戶在面對自動化測試時,可享有另一種有別於舊式箱型儀器的新選擇」,NI 模組化儀器研發總監 Steve Warntjes 指出:「如果把這款高速示波器搭配 LabVIEW 抖動分析工具組一起使用,即可運用現代電腦的處理效能,捨棄箱型示波器的舊款嵌入式處理器,進而發揮量測系統的效能。」
 
NI PXIe-5162 的功能
1.10 位元的垂直解析度有助於深入掌握訊號
2.單個 3U PXI Express 插槽提供 4 個通道,可在單一 PXI 機箱內擴充至 68 個通道
3.單一通道的取樣率最高可達 5 GS/s,4 個通道的同時取樣率則是 1.25 GS/s
 
LabVIEW 抖動分析工具組的功能
1.內建函式可提供時脈回復、眼圖、抖動、準位與時序量測等功能
2. 範例程式可用於眼圖與遮罩測試、隨機/精確抖動 (RJ/DJ) 區隔,無論使用雙 Dirac 與頻譜區隔方式皆可
 
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