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NI 發表 2012 年自動化測試展望報告

本文作者:NI       點擊: 2012-03-13 11:46
前言:

NI 美商國家儀器發表了 2012 年自動化測試展望報告,其中總結多家公司的技術研究結果,並分享了多家公司最新的測試/量測技術。此份報告說明多個產業的趨勢,包含通訊、汽車、半導體、航太/國防、醫療裝置、消費性電子。透過此份報告,工程師與管理階層將可了解最新策略,另有測試作業的最佳化實例。

 

此份報告共分為 5 大項:商業策略、架構、運算、軟體、I/O。並將討論下列主要趨勢:

 

·         測試組織最佳化: 各家公司均審慎評估測試工程與戰略性資產,以期能於高競爭性的環境中殺出一片天。

·         設計流程中的量測與模擬: 以完整模型搭配實際量測,將提升產品品質並縮短開發時間。

·         PCI Express 外部介面:電腦內部的高速、低潛時匯流排,可強化外接介面而提升新的系統拓撲。 

·         行動裝置迅速普及:目前幾乎已達「人手 1 支智慧型手機,所有背包都裝了 1 台平板電腦」的情況,同時正改變著測試系統的監控方式。 

·         可攜的量測演算法: 新的工具將僅需開發 1 組量測 IP,卻佈署到各式各樣的處理元件中。

2012 自動化測試展望報告,是根據學術/產業研究、使用者討論/調查、業務情報、客戶建言所歸納而得。此份報告所提供的資料,將可協助建構未來的產業趨勢與技術,以期解決測試產業的業務與技術難題。

自動化測試報告屬於 NI Test Leadership Council 的一部份。NI 將跨越不同產業領域,與全球數千位的客戶合作出最佳實例,最後再與大家分享。NI Test Leadership Council 的方式是邀請測試產業的領導廠商齊聚一堂一同討論,如此也得以得知商業與技術的重要資訊。Test Leadership Council包含技術交流、互動網路、領導廠商高峰會等活動。

若要進一步了解 2012 自動化測試展望報告,可至 www.ni.com/ato

【有關  NI  美商國家儀器】

1976 以來,NI (www.ni.com) 就針對產能、創新、開發等作業,持續提供高效率的工具。NI 圖形化系統設計 (GSD) 為軟、硬體的整合平台,可加速開發任何量測與控制系統。公司放眼於客戶、員工、股東、供應商的成功,以科技支援並改善目前的社會環境。

 

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