2014年8月5日--半導體測試設備領導者愛德萬測試宣佈，甫於今年六月推出的全新測試系統MPT3000已陸續接獲多家知名固態硬碟 (SSD) 大廠訂單並成功完成安裝，投入即將推出的下一代SSD裝置測試製程。
同時具備多通訊協定測試能力的MPT3000，性能優異、軟體簡單易用，可快速安裝立即應用於測試製程，再加上愛德萬測試堅實的全球支援服務，因而獲得客戶青睞。除了應用於PCIe Gen 3 NVMe企業級SSD測試外，現在此系統也進一步協助客戶加速SSD產品開發與量產。
MPT3000結合愛德萬測試在高速系統單晶片 (SoC) 測試領域的專業技術與先進電子架構，具備傳輸速率高達12 Gbps的專利硬體加速能力與效能，為SSD市場提供了高效益測試解決方案。MPT3000支援多種通訊協定測試並提供強大並行同測能力，可對各式SSD裝置進行全方位效能測試，從半高、全高PC介面卡、2.5吋硬碟、M.2固態硬碟到各種客製化尺寸裝置均可測試。
愛德萬測試將於八月五、六、七日在美國加州聖塔克拉拉快閃記憶體高峰會 (攤位號碼#614-615) 展示全新MPT3000系統，歡迎業界先進蒞臨參觀指教。
關於愛德萬測試 (Advantest Corporation)
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術之發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術之發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
