愛德萬測試VOICE 2015開發者大會圓滿落幕，首次跨地域舉辦吸引逾400名專業人士參加
前言：
超過100場技術簡報，豐富交流機會，規模更勝以往
2015年7月2日--半導體測試設備領導者愛德萬測試VOICE 2015開發者大會上個月於美國加州聖塔克拉拉及中國上海兩地精彩落幕，測試設備用戶、供應商及合作夥伴逾400人首度跨地域齊聚美國境外，使VOICE真正成為國際性論壇。本屆VOICE大會第一站美國矽谷 (5月12-13日) 共發表79篇技術論文，第二站中國上海 (5月22日) 共進行24場簡報。
VOICE 2015除增加舉辦地點創下新舉之外，與會演講者/發表人來自全球14個國家地區，此記錄也突破上屆的11個國家地區。隨著與會企業持續增加，討論議題不斷創新，VOICE大會的舉辦規模更是逐年擴大，本屆共獲134篇論文摘要投稿，其中第一次投稿者即超過41%，爭取站上VOICE成為論文發表人中，有78%曾是愛德萬測試客戶，由此可見晶片製造商對此年度論壇的高度評價。
今年VOICE大會規劃了多場研討會涵蓋各種不同技術主題，包括： 愛德萬測試V93000與T2000系統平台最新支援的測試功能、各式生產測試機台、產品工程技術、新興測試技術等；同時，這兩場盛會也帶來許多交流討論機會，讓與會者受益匪淺。
美國矽谷VOICE開發者大會
VOICE 2015美國矽谷場首先由愛德萬測試美國地區分公司總裁暨執行長Doug Lefever的開幕致詞揭開序幕，接著由愛德萬測試三位專家 Andree Weyh、Amit Monga及Zain Abadin進行技術產品專題演講，另外邀請曾獲獎表揚的世界知名冒險家保羅·迪甘(Paul Deegan)，以「Breathless: Embracing Uncertainty at 29,000 Feet」為題，帶來一場啟迪人心的精彩演講。
VOICE 2015美國矽谷場首先由愛德萬測試美國地區分公司總裁暨執行長Doug Lefever的開幕致詞揭開序幕，接著由愛德萬測試三位專家 Andree Weyh、Amit Monga及Zain Abadin進行技術產品專題演講，另外邀請曾獲獎表揚的世界知名冒險家保羅·迪甘(Paul Deegan)，以「Breathless: Embracing Uncertainty at 29,000 Feet」為題，帶來一場啟迪人心的精彩演講。
大會現場設置展示攤位，由愛德萬測試專家親自駐點，讓與會者直接與專家請益討論；13家贊助企業也在會場中向與會者展示其產品與服務；本屆大會並首次獲得SEMI、Global Semiconductor Alliance (GSA)、VLSIresearch及IC Insights四大產業組織機構共同協助。
經過兩天正式議程後，愛德萬測試聖荷西總部另舉行一天的研習活動，讓學員進行更深入的實際操作。
中國上海VOICE開發者大會
首次於中國上海舉辦的VOICE大會，報名盛況熱烈，開幕前數週即已額滿，這場論壇由愛德萬測試中國地區分公司總裁徐勇致開幕歡迎詞，接著邀請上海華虹宏力半導體測試委外事業資深主管桑浚之博士以「穿戴市場多元化技術」為題發表專題演講。
首次於中國上海舉辦的VOICE大會，報名盛況熱烈，開幕前數週即已額滿，這場論壇由愛德萬測試中國地區分公司總裁徐勇致開幕歡迎詞，接著邀請上海華虹宏力半導體測試委外事業資深主管桑浚之博士以「穿戴市場多元化技術」為題發表專題演講。
七家贊助企業則在技術研討會中場休息時間向與會者展示其產品與服務。
最佳論文獎
VOICE是以研究論文發表為主的論壇，每場會議皆由與會者評選出最佳論文加以表揚，今年美國矽谷場最佳論文獎為Luis Neria Govea (高通公司) 與Frank Dollendorf (愛德萬測試) 所共同發表的「Different Methods for Run-Time Vector Manipulation and Their Test Time Impacts」，中國上海場則由兩位愛德萬測試員工閔文豪與葛樑共同提出的「Examining a Sequencer-Controlled Search-Trimming Solution with Conditional Jump」所獲得。
VOICE是以研究論文發表為主的論壇，每場會議皆由與會者評選出最佳論文加以表揚，今年美國矽谷場最佳論文獎為Luis Neria Govea (高通公司) 與Frank Dollendorf (愛德萬測試) 所共同發表的「Different Methods for Run-Time Vector Manipulation and Their Test Time Impacts」，中國上海場則由兩位愛德萬測試員工閔文豪與葛樑共同提出的「Examining a Sequencer-Controlled Search-Trimming Solution with Conditional Jump」所獲得。
愛德萬測試VOICE開發者大會將於2016年跨入第十週年，相關詳細議程內容會在未來幾個月內公佈。
關於VOICE會議
由愛德萬測試及其客戶志工代表所組成的指導委員會負責管理的VOICE會議，是愛德萬測試為旗下T2000/V93000系統單晶片、各項記憶體測試機台/分類機/測試機台解決方案不斷成長的使用者和策略合作夥伴國際社群所籌辦的重要會議。會議主旨在於提供一個不同於業界的平台，探討如何精進半導體測試作業流程，與會者可藉此機會獲得並分享寶貴觀點、建立長期關係，並瞭解愛德萬最新測試設備/分類機產品的發展與應用動向。
由愛德萬測試及其客戶志工代表所組成的指導委員會負責管理的VOICE會議，是愛德萬測試為旗下T2000/V93000系統單晶片、各項記憶體測試機台/分類機/測試機台解決方案不斷成長的使用者和策略合作夥伴國際社群所籌辦的重要會議。會議主旨在於提供一個不同於業界的平台，探討如何精進半導體測試作業流程，與會者可藉此機會獲得並分享寶貴觀點、建立長期關係，並瞭解愛德萬最新測試設備/分類機產品的發展與應用動向。
關於愛德萬測試
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術的發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術的發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
