Tektronix 在 OFC 2017 上展示為資料中心網路開發的最新光學測試創新技術
前言：
會中將展示 100G、400G 標準光學量測技術的最新發展，以及業界唯一支援多 OMA 系統的光學調變分析軟體的端對端示範
2017年3月17日--全球領先的量測解決方案供應商---Tektronix今日宣佈將在 OFC 2017 上展示為資料中心網路所開發的最新光學通訊測試技術，OFC 2017 是專為全球頂尖的光學通訊和網路專業人士所舉辦的研討會。本次大會將有超過 600 間公司參展，並舉辦 1,150 場技術和商業簡報，來協助 13,000 多名與會者利用最新光學通訊創新技術，且滿足消費者和企業對更多頻寬及更高資料中心效能不斷成長的需求。
Tektronix高效能示波器總經理Brian Reich 表示：「隨著 100G 投入生產及 400G 設計工作全面展開，與矽晶和系統設計特性分析、驗證和除錯有關的測試挑戰將日益嚴峻。OFC與會者將能親眼目睹Tektronix正協助廣大的客戶不斷挑戰更高資料速率、新興標準及尖端科技研發的極限，同時利用我們的高效能解決方案有效縮短產品上市的週期。」
資料中心網路技術提供商希望能不斷提升高速資料傳輸的容量和精確度。Tektronix提供了一套可分析電氣和光學效能特性的完善高效能解決方案，並將在OFC (展位 2339 號) 進行展示，內容包括：
• DSA8300 取樣示波器搭配 80GHz 光學取樣模組，可支援針對 TDECQ 以 IEEE 802.3bs為基礎的 400G 光學測試，包括適用於 NRZ 和 PAM-4 (高達28GBd) 的高靈敏度單一模式/多模式光學量測。
• DPO70000SX 70GHz ATI 高效能示波器，可利用適用於 400G 標準的即時觸發和後等化錯誤偵測功能，分析單次 PAM-4 訊號。
• 業界唯一支援多 OMA 系統之光學調變分析軟體的端對端示範，包括AWG70000系列任意波形產生器及DPO70000SX示波器，適合空間分隔多工 (Spatial Division Multiplexing) 等應用。
• 發布多種新品，將可推動下一代光學裝置和互連裝置的製造良率明顯改善。
• 此外，與會者還可以在Tektronix (展位 2339號) 領取一張有關 PAM4 測試的教育海報。
「美國光纖通訊研討會及展覽會」(Optical Fiber Communication Conference and Exposition，OFC) 是專為光學通訊和網路專業人士所舉辦的全球最大型研討會和展覽會。40多年來，OFC 吸引了吸引了來自全球各地的與會者，在此進行會談、教學、溝通及推動業務發展。OFC 2017 將於 3 月19 至 23 日在美國加州洛杉磯舉辦。如需瞭解更多資訊，請造訪：http://www.ofcconference.org。
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關於Tektronix公司
Tektronix公司的總部設在美國俄勒岡州畢佛頓，為全球的客戶提供創新、精確和易於操作的測試、量測和監控解決方案，以解決問題、提供深入的見解，並促進各種研發探索。70年來，Tektronix始終在數位時代中扮演著重要的角色。請造訪www.tektronix.com.tw，加入我們的創新之旅。
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