愛德萬測試拔得頭籌率先上市先進PCIe Gen 4 SSD全方位測試解決方案
前言：
MPT3000系統全新升級
助SSD業者最新產品快速上市
2018年8月1日--半導體測試設備領導供應商愛德萬測試 (Advantest Corporation) (TSE: 6857) 領先業界，發表針對PCIe Gen 4固態硬碟 (SSD) 之開發、除錯與量產的完全整合測試解決方案，運用業已通過嚴謹測試的MPT3000平台，此平台系統亦獲PCIe Gen 3、SATA與SAS SSD製造大廠採用。有了這套全新整合式測試解決方案，SSD製造商如虎添翼，得以加速其新產品的上市時程。
MPT3000平台現在將能涵蓋PCIe Gen 4裝置的所有測試需求，包括運用MPT3000ES系統進行工程測試、運用MPT3000ENV系統進行可靠性驗證測試 (RDT)，以及運用MPT3000HVM系統進行生產測試，毋須耗時等待第三方PCIe Gen 4 SSD應用上市。此外，藉由提供客戶從設計到製造的完整測試流程，新的解決方案將能大幅簡化過渡到下一世代裝置的進程，而且使用的是與愛德萬測試PCIe Gen 3解決方案相同的測試架構與軟體。此全方位解決方案為SSD製造業者開拓出一條風險最低、速度最快的產品上市途徑。
愛德萬測試系統級測試副總Colin Ritchie表示：「為了因應各式各樣的SSD協定與規格，我們推出模組化MPT3000平台，並且在功能方面更上層樓，能協助客戶驗證和測試最新一代PCIe記憶體。本系統具備高度彈性，再加上tester-per-DUT架構和硬體加速特點，使其成為所有工程、量產和內建自我測試電路 (BIST) 應用最理想的單一系統解決方案。」
MPT3000 PCIe Gen 4產品已經上市，並已開始出貨給客戶。
關於愛德萬測試
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術的發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
