愛德萬測試針對新一代NAND快閃記憶體預燒測試機推出兩款B6700系列新機組
前言：
擴充平台溫度範圍的新型B6700L測試機~ 提供零佔用空間配置設計的B6700S系統
2018年10月24日--領先業界的半導體測試設備領導供應商愛德萬測試（東京證券交易所股票代碼：6857）推出最新一代B6700系列記憶體預燒測試機的兩組機種。B6700L和B6700S型號機種不但可降低測試成本，同時提高了伺服器和行動數據儲存應用環境的NAND快閃記憶體測試能力。
“藉由擴充B6700系列產品的廣度，我們為全球市場提供了更大的靈活性，以滿足未來幾年NAND快閃記憶體三倍需求的增長量” ，愛德萬測試記憶體事業體副總Takeo Miura指出。“公司新推出的兩套大批量測試解決方案，將幫助客戶從投資中獲得更多回報，並保持與現有生產網路連接之便利性”。
系列中的初始機種– 也就是近期發佈之B6700D – 設計上著重於平行操作, 通過預燒期間NAND快閃記憶體設備的功能評估，新一代記憶體裝置之測試成本將大幅降低。與之前的系列產品相比，本系統的許多關鍵功能增加一倍，其中包括兩倍的輸入通道和電源容量以及雙槽式設計。
新型B6700L測試機與B6700D相同的環境結構，並能適應更寬廣的溫度範圍。設備能夠在 -40°C~150°C的範圍內以0.1°C的增量進行溫度控制測試，本系統適用於可靠性測試和汽車設備測試。B6700L可同時測試多達12組B6700D相容特性的預燒板(BIB)和測試程序。
新的零佔用空間B6700S系統針對NAND快閃記憶體提供極低成本的測試解決方案，同時提供與其系列機種相同功能。B6700S可提供B6700D的單元化功能，並嵌入用於單晶圓等級測試的多晶圓探測系統中, 避免在實驗室或生產環境中因佔用空間所導致之相關成本。
B6700產品系列的所有機種皆使用相同的測試機板與操作系統，從而實現使用相容性。支援故障區塊記憶體(BBM)、通用緩衝記憶體(UBM)和資料樣式記憶體(DPM)功能以啟動NAND設備測試。
新上市的B6700L和B6700S測試機，計劃在2019年第一季度開始發貨。
關於愛德萬測試
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術的發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術的發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com
