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愛德萬測試最新T2000模組具備業界最高精度的數字轉換器用最低的成本實現高解析度音訊IC測試

本文作者:愛德萬       點擊: 2019-05-08 09:43
前言:
最新模組具備超高動態範圍新一代音訊裝置PMIC與DAC元件測試一把罩
2019年5月7日--半導體測試領導供應商愛德萬測試 (Advantest Corporation) (TSE: 6857) 發表最新GPWGD高解析度模組,具備業界最高精度的數字轉換器,能測試嵌於電源管理IC (PMIC) 內的高解析度音訊數位類比轉換器 (DAC),以及獨立高解析度音訊元件。此模組創新的測試技術,能涵蓋超高動態範圍,從元件特性分析到量產實現前所未有的類比測試精準度,在測試載板上省去複雜設計,也不需要額外測試或測量儀器。

高解析度音訊與CD相比,不僅動態範圍更廣,音源品質也更好。支援高解析度音訊的電子裝置愈來愈普及──包括智慧型手機,穿戴式電子產品與家庭劇院、自動導航系統、遊戲機、4K與8K電視以及其他新一代產品等等──嵌有數位類比轉換器(DAC)的電源管理IC(PMIC)數量增加,這將會需要具備24或32位元解析度的高動態範圍測試。

T2000平台加上GPWGD高解析度模組,只要一套系統設置,就能完成PMIC和高解析度音訊數位類比轉換器(DAC)的測試,對客戶而言,不僅資本投資能獲得最大利用,也能縮短測試週期。

向上相容的特性與具高解析度功能的數字轉換器,實現領先業界的測量能力,訊噪比 (SNR) 和動態範圍 (DR) 皆達30dB,超過其他測試機台的類比效能。此外,具備優異的同測能力,相較市面上其他系統相比量多了1倍同測數,從而提高產能並降低測試成本。

新的GPWGD高解析度模組在設計上具備高度彈性,無論是測試目前的元件類型或是最新高解析度音訊IC,都能夠與實驗室或生產環境無縫快速整合成為即戰力。
 
關於愛德萬測試
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商,專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指的量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外,該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術的發展,積極開發新興市場,近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡,以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立,並在1982年於美國成立第一家子公司,迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站
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