2019年7月30日--2019年快閃記憶體高峰會 (Flash Memory Summit 2019) 即將在8月6～8日，於加州聖克拉拉會議中心 (Santa Clara Convention Center) 盛大開幕。半導體測試設備領導供應商－愛德萬測試 (Advantest Corporation) (TSE: 6857) 除了將展示最新儲存與記憶體測試解決方案以外，更將首次發表MPT3000ARC測試系統。
愛德萬測試全球行銷傳播副總Judy Davies表示：「我們很榮幸在本屆高峰會隆重介紹，業界首款結合溫度控制功能和高生產效率的測試平台──MPT3000ARC系統，它能為固態硬碟 (SSD)進行極端溫度測試。愛德萬測試旗下的MPT3000產品系列原本就廣受SSD製造商採用，加入此新系統至MPT3000系列後，愛德萬測試可支援SSD測試從設計到生產製造，包括PCIe Gen 4在內，為下一代的裝置開闢出一條最快、風險最小的上市之路。」
產品展示
愛德萬測試將在606號攤位展示MPT3000系列，新成員MPT3000ARC也將亮相。這款最新的測試機，除了符合汽車溫度測試標準外，自動化設定的熱控制爐(thermal chamber) 也讓SSD製造商能快速達到目標溫度，有利於優化可靠度驗證測試 (RDT)和加快產品上市。MPT3000ARC的加入，使MPT3000系列能快速切換，在多種SSD產品上實現單一系統測試，如40-mm M.2記憶體到更大的EDSFF裝置。
愛德萬測試將在606號攤位展示MPT3000系列，新成員MPT3000ARC也將亮相。這款最新的測試機，除了符合汽車溫度測試標準外，自動化設定的熱控制爐(thermal chamber) 也讓SSD製造商能快速達到目標溫度，有利於優化可靠度驗證測試 (RDT)和加快產品上市。MPT3000ARC的加入，使MPT3000系列能快速切換，在多種SSD產品上實現單一系統測試，如40-mm M.2記憶體到更大的EDSFF裝置。
此外，愛德萬測試也將透過數位圖示，展示針對DRAM和快閃記憶體測試的T5800系列，該平台涵蓋裸晶針測(wafer sorting)到最終系統測試(final system test)的所有需求，橫跨工程到生產。
技術發表
除了產品展示以外，愛德萬測試應用工程師Justin Treon也將在8月7日 (三) 下午3:20至4:24，發表技術論文「Challenges of Testing PCIe Gen4 SSDs (and Beyond)」。
除了產品展示以外，愛德萬測試應用工程師Justin Treon也將在8月7日 (三) 下午3:20至4:24，發表技術論文「Challenges of Testing PCIe Gen4 SSDs (and Beyond)」。
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關於愛德萬測試
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術的發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術的發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com
