當前位置: 主頁 > 新聞 >
 

SEMICON Korea 2020即將登場愛德萬測試將展示5G、汽車和IoT應用最新半導體測試解決方案

本文作者:愛德萬       點擊: 2020-01-30 16:10
前言:
2020年1月28日--南韓國際半導體展 (SEMICON Korea) 將於2月5~7日,假首爾COEX商場盛大登場,半導體測試設備領導供應商愛德萬測試 (Advantest Corporation) (TSE: 6857) 將向業界展示最新先進IC測試解決方案。

除了高速記憶體測試解決方案外,愛德萬測試還將展示更多推動5G革命、加速其他革新應用的產品與解決方案,譬如先進駕駛輔助系統 (ADAS) /自動駕駛、物聯網 (IoT) /智慧裝置和人工智慧 (AI)。

 愛德萬測試全球行銷傳播副總Judy Davies表示:「今年的產品展示將著重呈現我們多年來秉持最先進的測試技術,在不斷演進的半導體產業持續耕耘並做出貢獻。透過強化核心業務和開拓新領域,我們持續滿足瞬息萬變的半導體供應鏈源源不絕的新需求與挑戰。」
 
產品展示
愛德萬測試將於C展館第610號攤位展出,最新重點產品包括V93000 Wave Scale Millimeter解決方案,開創業界首款高度整合、模組化多部位毫米波 (mmWave) ATE測試方案,能以最佳成本效益測試高達70 GHz的5G-NR毫米波元件;針對T2000系列測試平台設計,與最新圓形HIFIX整合的兩款新模組,在設計目的上正是為了擴大測試範圍、提升平行測試能力並降低使用於汽車之系統單晶片 (SoC) 元件的測試成本;業界首款兼具熱控制能力與高產能的測試平台MPT3000ARC,能進行包括PCIe Gen 4在內之固態硬碟 (SSD) 的極端溫度測試;和來自 Advantest Test Solutions (ATS) 的SoC系統級測試解決方案。

預計展出的其他產品與解決方案還包括:V93000 SMU8系統,針對28奈米到3奈米甚至更先進製程節點所需的次世代DC參數測試;T5800-系列 記憶體測試機,提供從晶圓級到最終測試的端到端測試解決方案;T5503HS2系統,也是同類測試機中,唯一具備評量次世代高速LPDDR5和DDR5記憶體IC先進特色的能力;HiFIX高速記憶體測試解決方案,支援16Gbps以上測試速度的先進元件測試;搭載HVI (高壓VI源與量測) 模組的EVA100測量系統,能進一步擴充平台的測量範圍至涵蓋使用於量產消費性應用的高功率IC;高階MVM-SEM® (多重視角掃描式電子顯微鏡) E3650,用於測量次世代光罩;針對1X-nm技術節點的F7000電子束微影工具;以及多款軟體工具與服務,透過打造包含分類機與測試機的測試機台解決方案,提升整體產能及測試品質

愛德萬測試的專家將在現場為與會者解答關於最新測試技術和最佳案例的問題。
 
贊助與發表
愛德萬測試贊助SEMI 專為業界主管階層舉辦的社交盛會「產業領袖晚宴」,將於2月5日假緊鄰COEX商場的首爾格蘭德洲際飯店 (InterContinental Seoul Parnas Hotel) 宴會廳舉行。

此外,南韓愛德萬測試RF測試經理Sungjong Park,將於2月5日在COEX商場第138號室,以「5G NR半導體測試挑戰」(5G NR Semiconductor Test Challenges) 為題,在「測試論壇」(Test Forum) 上發表演說。南韓愛德萬測試戰略規劃團隊 (Strategic Planning Group) 專務董事Masashi Nagai,亦將於2月6日在第300號室舉辦的「智慧行動力論壇」(SMART Mobility Forum),以「追求完美:為次世代汽車IC尋找最佳測試解決方案」(Driving for Perfection: Finding the Optimum Test Solution for Next-Generation Automotive ICs) 為題演講。同樣在2月6日,南韓愛德萬測試SoC UI團隊 (SoC UI Team Lead) 領導人Kyoungyong Kang,將於第318號室的「智慧製造論壇」(SMART Manufacturing Forum) 上台發表,講題為「實現智慧製造的測試管理術」(Test Cell Management for Enabling SMART Manufacturing)。
 
社群媒體
掌握愛德萬測試全球市場動態,請上Twitter追蹤 @Advantest_ATE。
 
關於愛德萬測試
愛德萬測試 (TSE: 6857) 是自動化測試與測量設備領導製造商,旗下產品用於5G通訊、物聯網 (IoT)、自駕車、人工智慧 (AI)、機器學習、智慧醫療裝置等應用所需之半導體的設計和生產。現今全球最先進的半導體生產線均採用愛德萬測試領先業界的系統與產品。此外,愛德萬測試亦投入研發,解決新興的測試挑戰應用,並生產光罩製造最重要的多視角量測掃描式電子顯微鏡,以及突破性的3D成像暨分析工具。1954年於成立於東京的愛德萬測試,是在全世界都設有據點的國際企業,更對跨國永續生產與企業社會責任作出承諾。進一步資訊請上公司網站:www.advantest.com
 
 

電子郵件:look@compotechasia.com

聯繫電話:886-2-27201789       分機請撥:11