2020年3月23日--半導體測試設備領導供應商愛德萬測試 (Advantest Corporation) (TSE: 6857) 首場虛擬商展於3月10日、11日圓滿落幕，透過這樣的方式，在兼顧新冠肺炎 (COVID-19) 防疫的同時，仍持續與全世界的員工、客戶及夥伴分享尖端的技術、產業和市場情報。在兩天的時間裡，來自47家企業將近200名代表，共同參與資訊豐富的線上會議，講者來自全球各地，以多國語言演說，包括愛德萬測試的主題專家和SEMI高階主管，還有世界各地代表電子製造供應鏈的產業組織。
愛德萬測試全球行銷傳播副總Judy Davies表示：「這場以半導體測試產業為主軸的獨特虛擬商展大獲成功，凸顯業界在面對不斷變動的市場條件下也能迅速反應的重要。僅代表愛德萬測試向每一位講者致上最誠摯的謝意，在他們的鼎力協助下，我們不僅回應業界對於資訊的渴求，也為全球測試產業社群提供互相交流的機會，圓滿達成會議目標。」
本次虛擬商展的影音記錄已開放線上收看，時間至6月1日止。
如何觀賞影音紀錄
點擊以下連結，前往個別議程錄影，密碼為Advantest。
致歡迎詞與活動介紹
• 主持人：愛德萬測試全球行銷傳播副總Judy Davies
• https://onlinexperiences.com/Launch/QReg/ShowUUID=18E77C12-6A40-4852-A992-EBDD58CAEE4C
• 主持人：愛德萬測試全球行銷傳播副總Judy Davies
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獨立與非獨立組網標準5G NR裝置測試：多輸入多輸出技術和載波聚合 (Standalone (SA) & Non-Standalone (NSA) 5G NR Device Testing: MIMO and Carrier Aggregation)
• 演講人：愛德萬測試子公司W2BI總裁Dinesh Doshi
• https://onlinexperiences.com/Launch/QReg/ShowUUID=2986699F-3F95-4807-B4E0-F6E091D16238
• 演講人：愛德萬測試子公司W2BI總裁Dinesh Doshi
• https://onlinexperiences.com/Launch/QReg/ShowUUID=2986699F-3F95-4807-B4E0-F6E091D16238
SEMI近期新訊
• 演講人：SEMI總裁兼執行長Ajit Manocha
• https://onlinexperiences.com/Launch/QReg/ShowUUID=18E77C12-6A40-4852-A992-EBDD58CAEE4C
• 演講人：SEMI總裁兼執行長Ajit Manocha
• https://onlinexperiences.com/Launch/QReg/ShowUUID=18E77C12-6A40-4852-A992-EBDD58CAEE4C
SEMI市場展望：晶圓廠投資、設備/材料市場與最新亞洲供應鏈 (SEMI Market Outlook: Fab Investment, Equipment/Material Markets and New Asia Supply Chain)
• 演講人：SEMI產業研究分析總監Christian Dieseldorff
• https://onlinexperiences.com/Launch/QReg/ShowUUID=18E77C12-6A40-4852-A992-EBDD58CAEE4C
• 演講人：SEMI產業研究分析總監Christian Dieseldorff
• https://onlinexperiences.com/Launch/QReg/ShowUUID=18E77C12-6A40-4852-A992-EBDD58CAEE4C
5G NR半導體測試挑戰 (5G NR Semiconductor Test Challenges)
• 演講人：愛德萬測試(南韓) 射頻測試工程經理Sungjong Park
• https://onlinexperiences.com/Launch/QReg/ShowUUID=18E77C12-6A40-4852-A992-EBDD58CAEE4C
• 演講人：愛德萬測試(南韓) 射頻測試工程經理Sungjong Park
• https://onlinexperiences.com/Launch/QReg/ShowUUID=18E77C12-6A40-4852-A992-EBDD58CAEE4C
實現智慧製造的測試機管理 (Test Cell Management for Enabling Smart Manufacturing)
• 演講人：愛德萬測試(南韓)SoC UI團隊負責人Kyoungyong Kang
• https://onlinexperiences.com/Launch/QReg/ShowUUID=18E77C12-6A40-4852-A992-EBDD58CAEE4C
• 演講人：愛德萬測試(南韓)SoC UI團隊負責人Kyoungyong Kang
• https://onlinexperiences.com/Launch/QReg/ShowUUID=18E77C12-6A40-4852-A992-EBDD58CAEE4C
追求完美：尋找次世代汽車IC最佳測試解決方案 (Driving for Perfection: Finding the Optimum Test Solution for Next-Generation Automotive ICs)
• 演講人：愛德萬測試(南韓)策略規畫團隊資深總監Masashi Nagai
• https://onlinexperiences.com/Launch/QReg/ShowUUID=45A7ED7F-6278-4FFF-AE30-3D766CD28837
• 演講人：愛德萬測試(南韓)策略規畫團隊資深總監Masashi Nagai
• https://onlinexperiences.com/Launch/QReg/ShowUUID=45A7ED7F-6278-4FFF-AE30-3D766CD28837
透過板載FPGA 進行射頻通訊測試的超高速SerDes 低成本解決方案 (Low-Cost Solution for Ultra-High-Speed SerDes to RF Communication Test Via Onboard FPGA)
• 演講人：愛德萬測試(中國) 應用工程師Tang Mingjie
• https://onlinexperiences.com/Launch/QReg/ShowUUID=18E77C12-6A40-4852-A992-EBDD58CAEE4C
• 演講人：愛德萬測試(中國) 應用工程師Tang Mingjie
• https://onlinexperiences.com/Launch/QReg/ShowUUID=18E77C12-6A40-4852-A992-EBDD58CAEE4C
針對共享同一存取埠之IP在SmarTest 7上進行並行測試的程式架構 (A Programming Framework of Concurrent Test on SmarTest 7 for IPs That Share the Same Access Port)
• 演講人：愛德萬測試(中國) 應用工程師Tianyu Zhang
• https://onlinexperiences.com/Launch/QReg/ShowUUID=18E77C12-6A40-4852-A992-EBDD58CAEE4C
• 演講人：愛德萬測試(中國) 應用工程師Tianyu Zhang
• https://onlinexperiences.com/Launch/QReg/ShowUUID=18E77C12-6A40-4852-A992-EBDD58CAEE4C
5G NR半導體測試挑戰 (5G NR Semiconductor Test Challenges) (韓語)
• 演講人：愛德萬測試(南韓) 射頻測試工程師/經理Sungjong Park
• https://onlinexperiences.com/Launch/QReg/ShowUUID=45A7ED7F-6278-4FFF-AE30-3D766CD28837
• 演講人：愛德萬測試(南韓) 射頻測試工程師/經理Sungjong Park
• https://onlinexperiences.com/Launch/QReg/ShowUUID=45A7ED7F-6278-4FFF-AE30-3D766CD28837
實現智慧製造的測試機管理 (Test Cell Management for Enabling Smart Manufacturing) (韓語)
• 演講人：愛德萬測試(南韓) SoC UI團隊負責人Kyoungyong Kang
• https://onlinexperiences.com/Launch/QReg/ShowUUID=45A7ED7F-6278-4FFF-AE30-3D766CD28837
• 演講人：愛德萬測試(南韓) SoC UI團隊負責人Kyoungyong Kang
• https://onlinexperiences.com/Launch/QReg/ShowUUID=45A7ED7F-6278-4FFF-AE30-3D766CD28837
透過板載FPGA 進行射頻通訊測試的超高速SerDes 低成本解決方案 (Low-Cost Solution for Ultra-High-Speed SerDes to RF Communication Test Via Onboard FPGA) (中文)
• 演講人：愛德萬測試(中國) 應用工程師Tang Mingjie
• https://onlinexperiences.com/Launch/QReg/ShowUUID=45A7ED7F-6278-4FFF-AE30-3D766CD28837
• 演講人：愛德萬測試(中國) 應用工程師Tang Mingjie
• https://onlinexperiences.com/Launch/QReg/ShowUUID=45A7ED7F-6278-4FFF-AE30-3D766CD28837
針對共享同一存取端口埠之IP在SmarTest 7上進行並行測試的程式架構 (A Programming Framework of Concurrent Test on SmarTest 7 for IPs That Share the Same Access Port) (中文)
• 演講人：愛德萬測試(中國) 應用工程師Tianyu Zhang
• https://onlinexperiences.com/Launch/QReg/ShowUUID=45A7ED7F-6278-4FFF-AE30-3D766CD28837
• 演講人：愛德萬測試(中國) 應用工程師Tianyu Zhang
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社群媒體
搶先掌握測試解決方案領導業者最新資訊，歡迎追蹤愛德萬測試Twitter帳號：@Advantest_ATE。
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關於愛德萬測試
愛德萬測試 (TSE: 6857) 是自動化測試與測量設備領導製造商，旗下產品用於5G通訊、物聯網 (IoT)、自駕車、人工智慧 (AI)、機器學習、智慧醫療裝置等應用所需之半導體的設計和生產。現今全球最先進的半導體生產線均採用愛德萬測試領先業界的系統與產品。此外，愛德萬測試亦投入研發，解決接踵而來的測試挑戰應用，並生產光罩製造最重要的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。1954年於成立於東京的愛德萬測試，是在全世界都設有據點的國際企業，更對跨國永續生產與企業社會責任作出承諾。進一步資訊請上公司網站：www.advantest.com。
