日本相馬光學推出S-2440 / S-9000系列太陽光譜儀，為檢測太陽光源模擬器之最佳利器
前言：
可對應不同種類之太陽電池，進行不同波長範圍之太陽光譜量測
2014年5月2日--專業太陽電池量測儀器製造商 – 日本相馬光學推出多款太陽光譜儀 S-2440C / S-2441C / S-2442C、S-9001 / S-9011，提供太陽電池以及模組製造商研發單位或生產單位之太陽光源模擬器進行光譜合致度之等級判定。
歐洲國際規範 IEC 60904-9 (Edition 2, 2007) 對於太陽光源模擬器之性能提出規格要求，波長範圍 (400~1100nm) 分為六個波長區段，每段波長範圍內之光譜分布百分比總合為100%，說明如下 ;
光譜合致度(Spectral match)
表1: IEC 60904-3 國際法規規範全球參考太陽光譜照度分布
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|
波長範圍 (奈米) |
(每段波長範圍之光譜分布百分比) |
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1 2 3 4 5 6 |
400 ~ 500 500 ~ 600 600 ~ 700 700 ~ 800 800 ~ 900 900 ~ 1100 |
18.4% 19.9% 18.4% 14.9% 12.5% 15.9% |
太陽光源模擬器等級(Solar Simulator Classification)
表2:太陽光源模擬器等級定義說明
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等級 |
光譜合致度 |
照射均勻度 |
時間穩定性 |
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短時間穩定性(STI) |
長時間穩定性(LTI) |
||||
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A |
0.75 ~ 1.25 |
2% |
0.5% |
2% |
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B |
0.60 ~ 1.40 |
5% |
2% |
5% |
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C |
0.40 ~ 2.00 |
10% |
10% |
10% |
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光譜合致度(Spectral match)
可行之量測方法:
a)光譜儀，包括光柵monochomator和一個離散檢測器
b)一種電耦合器件或光電二極管陣列分光計
c)一種具有帶通濾波器之多檢測器組件
d)一種具有多個帶通濾波器之單檢測器
可行之量測方法:
a)光譜儀，包括光柵monochomator和一個離散檢測器
b)一種電耦合器件或光電二極管陣列分光計
c)一種具有帶通濾波器之多檢測器組件
d)一種具有多個帶通濾波器之單檢測器
相馬光學之太陽光譜儀，可針對波長範圍 400 ~ 1100nm、400~1500nm或400~2000nm 量測太陽光源模擬器產生之太陽光譜，進而判定太陽光源模擬器之光譜合致度是否符合國際規範之A，B，C等級。
S-2440C及S-9001系列之太陽光譜儀體積小、重量輕、標配專用攜帶箱便於收納，方便測試者於室內或戶外使用。
圖1: 太陽光譜儀2440C/S-2441C/S-2442C ( 取得歐洲CE Mark )
圖2: 太陽光譜儀 S-9001/S-9011
產品特性 :
▓ 可對應不同波長範圍進行量測
✽300 ~ 1100nm ( 型號 : S-2440C / S-2441C / S-2442C )
✽300 ~ 1500nm ( 型號 : S-9011 )
✽300 ~ 2000nm ( 型號 : S-9001 )
▓ 可對應不同太陽光源模擬器進行量測
✽穩態式
✽脈衝式
✽閃光式
▓ 內建六種國際規範法規，可與光源模擬器進行等級判定
✽美國 ASTM AM1.5G 2009
✽美國 ASTM AM1.5D 2009
✽歐洲 IEC 60904-9 (ED 2007) 對應 c-Si 晶矽太陽電池
✽日本 JIS C8912-2011 對應 c-Si 晶矽太陽電池
✽日本 JIS C8933-2011 對應 a-Si 非晶矽太陽電池
✽日本 JIS C8942-2009 對應 Multi-Junction多結合型太陽電池
▓ 設定及操作介面單純
▓ 量測波形及結果可進行列印
▓ 量測數據及波形資料可保留或刪除
▓ 量測結果可進行交叉分析
▓ 量測波形區塊放大分析
▓ 量測波形差異比對
▓ AM1.5G 與 AM1.5G 太陽光譜比對
▓ 可對應不同波長範圍進行量測
✽300 ~ 1100nm ( 型號 : S-2440C / S-2441C / S-2442C )
✽300 ~ 1500nm ( 型號 : S-9011 )
✽300 ~ 2000nm ( 型號 : S-9001 )
▓ 可對應不同太陽光源模擬器進行量測
✽穩態式
✽脈衝式
✽閃光式
▓ 內建六種國際規範法規，可與光源模擬器進行等級判定
✽美國 ASTM AM1.5G 2009
✽美國 ASTM AM1.5D 2009
✽歐洲 IEC 60904-9 (ED 2007) 對應 c-Si 晶矽太陽電池
✽日本 JIS C8912-2011 對應 c-Si 晶矽太陽電池
✽日本 JIS C8933-2011 對應 a-Si 非晶矽太陽電池
✽日本 JIS C8942-2009 對應 Multi-Junction多結合型太陽電池
▓ 設定及操作介面單純
▓ 量測波形及結果可進行列印
▓ 量測數據及波形資料可保留或刪除
▓ 量測結果可進行交叉分析
▓ 量測波形區塊放大分析
▓ 量測波形差異比對
▓ AM1.5G 與 AM1.5G 太陽光譜比對
關於相馬光學 ( Soma Optics Co., Ltd. )
相馬光學 ( Soma Optics Co., Ltd. ) 公司創立於西元 1976年，致力於光學機器、真空機器、分析機器、醫用檢查機器以及太陽電池評價裝置之技術與開發。
相馬光學 ( Soma Optics Co., Ltd. ) 公司創立於西元 1976年，致力於光學機器、真空機器、分析機器、醫用檢查機器以及太陽電池評價裝置之技術與開發。
相馬光學產品包括太陽電池分光感度測定裝置、分光放射計、電氣輸出測定裝置、多通道分光計、光纖多通道分光計、單色光照射裝置、單色分光儀、各種光源、集光裝置、光電倍增管用高壓電源、高速液體色譜分析儀、工廠用防爆型紫外可視分光檢出器、液體色譜用紫外可視分光檢出器、螢光分光檢出器、化學發光檢出器、光纖紫外吸收檢出器、紀錄器、脫氣裝置、近紅外分光光度計、硝酸/亞硝酸分析計…. 等，產品跨及醫學、科學、太陽能不同領域。
