愛德萬測試發表EVA100量測系統，整合類比、混合訊號與感測器IC測試
前言：
全新測試解決方案整合多種元件測試功能，從工程研發到生產階段皆能應用
2014年6月5日--半導體測試設備領導者愛德萬測試全新推出結合數位與類比測試功能的量測系統EVA100，此套先進量測平台可應用於少接腳數的類比、混合訊號與感應器IC量測，帶來更多附加價值。
EVA100採用擴充性架構設計，能靈活執行多種量測功能，且操作介面十分直覺，使用者不必具備高階程式設計能力即可操作，進而加速推出最新IC元件。
工程研發與量產階段皆可適用的EVA100，能同時控制多種測試功能，帶來提高量測精確性、改善測試效率等效益。EVA100不僅整合了類比電壓與電流源量測功能，同時在輕巧設計中置入8通道、100 Mbps的圖樣產生器與示波器，免除多種量測儀器間的複雜接線與協調問題。
愛德萬測試執行董事南雲悟表示：「今日智慧電子產品對於效能、準確性、穩定度的要求日益嚴格，類比IC與混合訊號IC的重要性不言可喻，如果使用多種量測儀器為這些元件分別進行測試，不但成本高，安裝設定程序複雜又耗時，現在透過全新EVA100一體化測試解決方案，這些問題將可迎刃而解。」
關於愛德萬測試 (Advantest Corporation)
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術之發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術之發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
