2014年10月30日--為因應新一代顯示驅動IC (DDI) 市場三大關鍵趨勢──顯示驅動元件接腳數日趨增加、介面速度日益攀升以及功能高度整合化，半導體測試設備領導者愛德萬測試全新推出T6391系統，滿足新一代顯示驅動IC及高畫質液晶顯示面板內嵌控制功能的測試需求。
有鑑於高階DDI採高度整合技術，所面臨的測試挑戰有其獨特性，以內建液晶顯示器觸控感測器功能的顯示驅動IC來說，其所需測試的邏輯/類比電路數是相當龐大的。在可預見的未來內，不僅電源管理IC (PMIC) 功能將可能整合於顯示驅動IC中，智慧型手機、平板電腦、筆記型電腦等行動裝置上的液晶顯示器面板應用，也會持續增長，在市場需求帶動下，輕薄短小與功能多元化，已是元件未來趨勢。
愛德萬測試T6391系統為業界唯一可同時滿足當前與未來所有測試需求的平台，這套全新系統傳承原有T6300產品系列之工程環境模型，以已累積逾1,500台實績的T6300系列技術做為基礎，採用相同TDL程式語言，提升資料傳輸與計算速度，達成更高產出效率。
愛德萬測試執行董事南雲悟表示：「對於想要提升技術與生產速度的顯示驅動IC製造廠來說，我們的接腳電路介面設計提供了業界最佳解決方案，這套全新測試系統可全方位支援各類應用，包括高接腳數半導體、高速介面、類比電路、記憶體與邏輯元件之測試。」
T6391採用高速匯流排達成高測試產出，並以512個I/O通道設計，提供多晶片並列同測，且可支援多達3,584支LCD 接腳的高解析度顯示驅動IC測試，這些規格將足以測試現今市場上最高接腳數的LCD，包括全高解析度 (HD)、WXGA以及HD720顯示器。
T6391可處理的I/O接腳頻率最高達1.6 Gbps，能滿足採用行動電子產品標準通訊協定──行動產業處理器介面MIPI (mobile industry process interface)──的LCD測試需求，再搭配另一套量測模組後，甚至可測試高達6.5 Gbps、新一代4K (2160p) 等超高畫質電視將使用的LCD驅動器傳輸介面。
T6391亦提供16個通道任意波形產生器 (AWG) 與數位擷取功能，以支援類比IC測試；此外，透過此系統的掃描圖樣產生器 (scan pattern generator，SCPG)、演算圖樣產生器 (algorithmic pattern generator，ALPG) 以及演算失效記憶體 (algorithmic failure memory，AFM) 模組，將可針對內建觸控感測器功能的顯示驅動IC，執行掃描與記憶體測試。
T6391測試系統生產單元預計於今年年底開始出貨。.
關於愛德萬測試 (Advantest Corporation)
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術的發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術的發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
