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NI 爲提升硬體迴路 (HIL) 測試系統的客制化功能,採用整合式 HIL 模擬器

本文作者:NI 國家儀器       點擊: 2016-08-04 08:23
前言:
全新 HIL 模擬器能夠打造出開放式的商用現成平台,不須犧牲所需彈性,便能降低開發與測試風險
2016年08月02日--NI 國家儀器 (Nasdaq: NATI) 身為平台式系統供應商,可協助工程師與科學家解決全球最艱鉅的工程挑戰,並於今日推出整合式 HIL 模擬器 採開放式模組化架構,在時間緊縮、測試需求不斷變化與人力減少的情況下,有助於汽車與航太嵌入式軟體的測試人員繼續維持品質。
 
由於 NI 系統採用開放式的現成軟硬體平台,因此能夠輕鬆整合相機影像處理、RF I/O 與傳統 HIL 元件至單一系統之中。 這樣的調整功能不同於目前其他的方法,可讓工程師隨時滿足高階駕駛輔助系統、系統電氣化與高階感測器 (例如雷達) 等進階測試的需求。 藉由 NI 推出的 HIL 模擬器,測試工程師便能選擇以開放式工業標準爲架構的整合式測試系統,不再受限於封閉式、無法調整的測試系統,也不必重新打造整套系統。  

 「我們選用 NI HIL 測試系統,因爲此系統採用開放式標準平台,有助於降低整體測試、長期維修與硬體持有成本。」Saab Aeronautics 的 Anders Tunströmer 如此表示:「此系統讓我們能依自身的確切需求客制化系統,並能在整合測試我們的獅鷲戰鬥機時,盡早發現、修復嵌入式軟體的缺陷。」

藉由 HIL 模擬器,使用者即可執行以下作業:
• 客制化系統以納入多種技術,例如相機資料、雷達目標的 RF 量測與產生、無鑰匙進入/無鑰匙啓動功能、胎壓監控系統、執行高階模型的 FPGA 等等,這些技術均須使用軟體測試的最大範圍
• 使用整合式 HIL 模擬器,並搭配適用於 Real-Time 模擬、激發產生與資料擷取的 VeriStand 測試軟體迅速展開測試、盡早發現缺陷
• 採用 ASAM XIL 工業標準輕鬆整合第三方軟體模型與第三方系統,以便重複使用模型與硬體

「由於需求不斷改變,同時又需要更完整的測試範圍,因此除了一般元件之外,大部分的 HIL 測試系統還必須提供數項客制化功能。」NI 資料擷取與嵌入式系統行銷副理 Chad Chesney 如此表示: 「NI 標準化了這些測試系統的常見元件,以便我們的客戶與合作夥伴能夠專注在他們的專業領域,並確實提供最穩定、創新的控制系統。」

HIL 模擬器是以 PXI 與 CompactRIO 開放式平台爲架構的最新系統, 採用了 VeriStand Real-Time 測試設定與記錄軟體、LabVIEW 系統設計軟體,還有 NI 全新的 SLSC 硬體,適用於標準化訊號路由、切換器、負載與訊號處理。 NI HIL 系統透過 Real-Time 作業系統與 FPGA 技術,提供極致的客制化功能,並同時運用商用現成技術,降低長期維護成本。

如需更多有關 HIL 模擬器的資訊,請前往
www.ni.com/hil-simulator

【關於 NI 國家儀器】
自 1976 年以來,NI 便提供靈活強大的技術系統,藉此提高生產力並加速創新,進一步協助工程師和科學家克服世界上最艱鉅的工程挑戰。NI 的客戶來自各行各業,包含醫療、汽車、消費型電子、粒子物理等等,他們採用 NI 的整合式軟硬體平台,努力改善我們的世界。

CompactRIO、LabVIEW、National Instruments、NI、ni.com、NI VeriStand 與 NIWeek 都是 NI 美商國家儀器的商標。 此處所列的其他產品與公司名稱,均為該公司的商標或名稱。
 

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