2013年11月18日--愛德萬測試2014年VOICE會議自即日起徵求以探討系統單晶片 (SOC)、記憶體元件測試機台/分類機創新測試解決方案為主題的相關論文，歡迎全球各界踴躍投稿。明年VOICE會議除了規劃多場技術簡報議程、供應商博覽會之外，同時也將就T2000、V93000和各項記憶體測試機台與使用者進行討論小組，讓所有與會者彼此廣泛交流並分享經驗。此外，還將首次打破以往舉辦慣例，移師新會場，並分成兩地舉辦，網站也將改用新名稱以全新面貌亮相。
2014年VOICE會議已訂於5月12-13日在加州矽谷聖克拉拉凱悅飯店盛大展開，其他在14-16日陸續登場的活動包括：5月14日於愛德萬測試加州聖荷西辦公室舉辦實機操作研習營，5月15-16日於新增設的德州奧斯丁會場舉辦其他會議議程。VOICE會議也將從明年起正式更名為「愛德萬測試開發者大會」，以反映業界與會者邁入行動App開發風潮，帶動技術快速發展的創新趨勢。
Broadcom資深測試總工程師暨2014年VOICE會議指導委員會主席Toby McPheeters表示：「近幾年來VOICE開發者大會不僅規模不斷擴大，舉辦的品質也年年提升，明年我們將分兩地擴大舉辦，讓更多開發人員、使用者和第三方夥伴交流彼此使用愛德萬測試設備的最佳實務經驗，相互激盪對半導體測試新一代技術的意見與觀點，相信他們將能在會議活動的互動交流中提升專業知識、吸取業界經驗。」
每一年VOICE會議都吸引了許多元件整合製造廠 (IDM)、晶圓代工廠、無晶圓IC設計公司、委外組裝測試/封裝代工 (OSAT) 共襄盛舉。
2014年VOICE會議徵稿方向將聚焦七大技術領域：
- 特定元件測試：探討MPU、MCU、ASIC、汽車零組件、CMOS影像感測元件、PMIC、記憶體、多晶片封裝、堆疊式晶片封裝等領域的測試技術
- 新軟硬體：運用最新軟硬體功能開發解決方案s
- 測試技術：探討DC、RF、安全性、混合訊號、高速數位元件等測試技術
- 系統層級測試：探討通訊協定感知、記憶體模擬、PRBS (假性隨機二進位序列)、SmartLoop等技術
- 加速產品上市：探討可測試性設計 (DFT)、資料模擬/週期化、自動化測試程式產生等
- 提高產量：探討降低測試時間、提升多點平行測試能力、改善多點平行測試效率、並行同測等
- 生產測試機台：探討測試機台/分類機整合、硬體設備設計、軟體解決方案、資料分析或適應性測試技術等
有意投稿者請於2013年11月22日前提交加州聖克拉拉或德州奧斯丁會場所要發表的摘要內容，大會將於2014年1月中旬前通知通過審查的投稿者。徵稿活動詳情請上VOIC會議官網查詢：www.advantest.com/voice。
關於愛德萬測試2014年VOICE會議
VOICE會議係由愛德萬測試及其客戶志工代表所組成的指導委員會負責管理，此會議是愛德萬測試為旗下T2000/V93000系統單晶片、各項記憶體測試機台/分類機/測試機台解決方案不斷成長的使用者/策略合作夥伴國際社群所籌辦的重要會議。會議主旨在於提供一個不同於業界的平台，探討如何精進半導體測試作業流程，與會者可藉此機會獲得並分享寶貴觀點、建立長期關係，並瞭解愛德萬最新測試設備/分類機產品的發展與應用動向。
關於愛德萬測試 (Advantest Corporation)
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術的發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
