2014年1月6日--半導體測試設備領導者愛德萬測試今天宣佈，該公司兆赫波光譜造影系統TAS7500已獲韓國首爾大學採用。
愛德萬測試預計，隨著首爾大學導入此套系統之後，將促使其他大學、一般企業、研究機構加速跟進應用兆赫波分析技術，帶動該公司兆赫波系統需求增加。
首爾大學教授Gun-Sik Park指出：「TAS7500SP操作簡單，效能穩定可靠，讓我們可以應用在許多研究領域上，甚至過去一直無法突破分析技術障礙的生化與材料科技，現在也能夠透過這套系統運用兆赫波光譜技術。期盼其他南韓研究單位也能採用TAS75000SP系統，推動各種領域進一步發展。」
愛德萬測試多年來致力領導業界發展兆赫波 (輻射頻率介於0.1 THz到10 THz，波長範圍介於微波與紅外線之間的電磁波) 造影分析技術，TAS7500SP即是愛德萬測試應用兆赫波獨特特性所開發的非侵入性、非接觸式造影系統，可對固體、液體、粉狀等各種形態的樣本進行內部結構分析。愛德萬測試自2010年4月開始已陸續發表一系列兆赫波分析系統，除了主要應用於製藥產業的TAS7500SP之外，還包括：TAS7500SU寬頻分析系統、TAS7500SL低頻分析系統、TAS7500IM2D/3D造影分析系統，以及可任意設定被測區域，有助於擴大應用領域的TAS7500TS光譜造影分析平台。這些系統提供了卓越效能，並具備業界最高產能優勢，將能滿足從研發到量產不同階段的量測需求。
兆赫波光譜系統TAS7500SP
關於愛德萬測試 (Advantest Corporation)
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術的發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
