在 16 通道展示器中驗證的 經驗型多通道相位雜訊模型
前言：
■作者：Peter Delos / ADI 技術主管Michael Jones / ADI 首席電氣設計工程師
簡介
相位雜訊是衡量所有 RF 系統設計的一個重要的性能指標。在相位陣列這類大型多通道 RF 系統中，通道之間彼此關聯，其目標之一就是利用分散式接收器和發射器的關聯組合，從陣列層級改善動態範圍。要達成此目標，面臨著一項系統工程挑戰：分解出系統中相關和不相關的雜訊項。本文展示一種能估算 16 通道 RF 展示器的相位雜訊的系統方法，以協助系統工程師開發出一種能評估大型系統的雜訊性能的分析方法。
相位陣列內的訊號都包含在通道上不相關的雜訊項和在通道上相關的雜訊項。分散式組件的附加雜訊就是不相關的。但是，分散式元件共用的訊號會產生相關的雜訊成分。挑戰在於：如何快速識別架構中的相關雜訊項。共通或共用的內容都會在通道中引發相關雜訊。示例包括共用 LO、時脈或電源。隨著系統複雜性增加，解決這些雜訊項會變得很困難。所以，如果能使用直覺方法從雜訊角度重新繪製架構，並且快速識別相關雜訊貢獻項，將對建構下一代系統的系統設計人員大有助益。
圖 :16 通道演示器：該平台包含 4 個 AD9081 晶片。每個 AD9081 晶片包含 4 路射頻 DAC 和 4 路射頻 ADC，提供總共 16 路發射和 16 路接收通道。
