2012年10月25日--NIDays 為美商國家儀器 (National Instruments, NI) 的全球圖形化系統設計盛會，這場從美國 NI 總部—德州奧斯汀 NIWeek 開跑的全球性巡迴活動，今年在台灣將於11/27 (二) 假台北國際會議中心和大家見面。今年會中將完整呈現圖形化系統設計 (Graphical System Design，GSD) 的精神，整合「圖形化軟體」與「模組化硬體平台」的力量，簡化並提升工程師的控制、設計，與測試技術，達到降低成本、加速開發，且提升效能的目標。
此次 NIDays 2012 將會有 LabVIEW 技術、嵌入式監控系統、自動化測試技術、無線通訊測試技術、學術教學論壇”等5 大技術專題，共20 個技術講座。講座內容從教育、研究，到產業應用，完整涵括，讓所有與會者可針對工作上不同的需求，選取適合的課程，獲得深入、精闢的技術分享與交流。除了技術專題之外，活動現場更將有別於以往，設置超過 40 個動態實機展示，讓親臨現場的貴賓在 LabVIEW 、嵌入式監控系統、自動化測試、無線通訊測試，及機器人五大展覽館皆能第一手獲得最新技術，並和專業的工程人員進行討論。
從軟體—LabVIE 為中心點，搭配各式硬體所完成的解決方案。 NIDays 2012 將呈現於各產業的多元應用。無論是程式編寫上如何以 LabVIEW 和其他成是語言整合，或是智能機台狀態監控系統趨勢、以及大家都關心的智能電網等再生能源熱門議題、再到半導體的自動化 IC 規格測試技術、智慧型手機平行測試剖析，甚至是打造高效能 RF 測試系統、Combo Chipset通訊測試系統剖析 (WLAN& BT & FM)等，今年的 NIDays 2012 將竭盡所能的滿足所有與會者的需求。
NI 誠摯邀請所有相關領域的業界精英參與這一年一度難得的盛會，更期待和業界工程師一起利用 GSD 加速工作效率，邁向自動化新紀元。
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從 1976 以來，NI (www.ni.com) 就針對產能、創新、開發等作業，提供工程師與科學家高效率的工具。NI 圖形化系統設計 (GSD) 為軟、硬體的整合平台，可加速開發任何量測與控制系統。NI 公司放眼於客戶、員工、股東、供應商的成功，以科技支援並改善目前的社會環境。
