2015年9月22日--半導體測試設備領導者愛德萬測試 (Advantest) 將於10月6-8日美國加州安納罕所舉辦的國際測試會議 (International Test Conference，ITC) 上展示最新測試解決方案。除在現場展示實機外，也將展示線上測試解決方案。愛德萬測試為本屆會議白金級贊助企業。
現場展示
現場展示內容包括可隨需取用的CloudTesting™ 服務，以及應用於類比訊號、混合訊號及感測IC測試的EVA100測試系統。展示攤位位於迪士尼樂園飯店 (Disneyland Hotel) 南棟，攤位編號 #323。
現場展示內容包括可隨需取用的CloudTesting™ 服務，以及應用於類比訊號、混合訊號及感測IC測試的EVA100測試系統。展示攤位位於迪士尼樂園飯店 (Disneyland Hotel) 南棟，攤位編號 #323。
愛德萬測試首創業界的CloudTesting雲端測試服務是透過提供多個測試方法(Testing IP)的方式，讓使用者可隨時從愛德萬測試網站上選用。對半導體初期的驗證測試來說，這種隨需取用的線上服務成本極低，無須資本支出，而且使用者在短短幾小時內就能完成測試環境設定，收到待測物即可進行測試。使用愛德萬測試CloudTesting雲端測試服務，客戶可以免費的租賃測試機台並且不需負擔維修測試機台的費用，省去保養檢修的麻煩，也不會產生其他非預期的支出。
EVA100測試機台採模組化架構，內建高電壓、高精準度類比參數量測儀，支援多種元件量測，包括多種類比與混合訊號元件量測。EVA100 GUI介面相當直觀，工程師無須具備進階的程式撰寫能力也能快速開發出測試程式，迅速得到關鍵設計參數的量測結果，進而有助於加速晶片上市時程。
論文發表
除產品展示外，愛德萬測試也將在三天會期中發表數篇論文。
除產品展示外，愛德萬測試也將在三天會期中發表數篇論文。
10月6日（二）下午1:20，愛德萬測試A. Lum將在企業論壇中主講一場研討議程，探討如何應用EVA100系統快速進行測試開發。地點是在迪士尼樂園飯店展覽會場內。
10月6日當天下午2點，在Magic Kingdom Ballroom 4進行的第三場技術研討會上，來自愛德萬測試實驗中心的T. Yamaguchi與K. Uekusa、愛德萬測試工程師M. Ishida以及華盛頓大學的M. Soma，將共同發表論文，針對類比數位轉換器輸出的孔徑抖動(aperture jitter)量測，提出新方法。
10月8日上午9點，在Magic Kingdom Ballroom 2進行的第21場技術研討會將探討射頻與高速測試議題，愛德萬測試工程師M. Ishida與K. Ichiyama將發表論文：「An ATE System for Testing 2.4-GHz RF Digital Communication Devices with QAM Signal Interfaces」。此外，在ITC會議結束後，愛德萬測試也會在10月9日（五）假迪士尼樂園飯店，贊助舉辦 第六屆IEEE國際三維堆疊式晶片測試研習營。愛德萬測試的S. Neches將以「Analysis of Advanced Semiconductor IC Devices Using Terahertz Frequency Technology」為題發表簡報，介紹愛德萬測試新推出的TS9000太赫茲系統，說明該系統利用短脈衝太赫茲波與次太赫茲波頻率分析高階晶片。追蹤最新消息歡迎至Twitter (帳號 @Advantest_ATE) 隨時掌握愛德萬測試的動態消息。
關於愛德萬測試
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術之發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術之發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
