愛德萬測試將在3月15~17日於SEMICON China上海國際半導體展展示連網世界所需的半導體測試技術
前言：
測試解決方案領導者愛德萬將於其攤位展示產品與服務並贊助大會兩場技術論壇
2016年3月9日--2016年3月15~17日，半導體測試設備領導者愛德萬測試(Advantest)將在上海新國際博覽中心舉行的SEMICON China國際半導體展上，展示連網世界所需的各種測試解決方案。此外，今年愛德萬測試還將贊助兩項SEMICON China的大會活動，分別是「做大做強中國集成電路產業鏈」，以及「中國國際半導體技術大會」(CSTIC)。
從手持行動裝置到整座智慧城市所需的最新測試技術，都將展示於愛德萬測試位於N4展館#4431的攤位。展出的設備包括可將V93000平台功能擴充至所有的功率、類比智慧IC測試的最新AVI64通用類比腳位模組。使用64通道配置的AVI64模組已正式出貨，V93000單一可擴充平台也躍升為市場上應用最廣泛的技術。加入新模組後，V93000平台已可處理所有行動運算與汽車市場所需的SoC裝置測試 。愛德萬將於攤位現場實際展示旗下產品。
展出產品包括具備高度靈活性，可用來進行裝置特性分析的T2000 SoC測試機，以及能對光學收發器進行高效測試的28G光纖連接埠模組(OPM)。不僅如此，也將於攤位上展出能同時運用於T2000與V93000平台，進行無線射頻功率放大器(RFPA)與無線射頻切換器(RFSW)測試的應用模組載板(AMO)單元。
EVA100 Digital Solution則是另一項將展示的重要產品。這套測量系統能運用於生產與工程模型，可針對物聯網時代智慧電子所採用的對成本敏感度高之數位裝置，進行設計評估、前端與後端測量、錯誤分析、封裝檢驗、以及最後的驗收。EVA100 Digital Solution比原本的EVA100 measurement system小了40%，因此可藉由作業及維修的簡化，省下更多時間與金錢。
愛德萬測試還將展出T6391系統，是專為符合成本效益的LCD驅動測試需求所設計；此外還有DRAM及NAND快閃記憶體測試所使用的T5833工程系統、能夠針對模具厚度執行非破壞性測量分析的TS9000 MTA系統，以及各種愛德萬測試推出的分類機、燒機(burn-in test)功能、奈米技術與現場服務展示。
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