愛德萬測試將於12月14-17日參與首場線上SEMICON Japan大會
前言：
測試產業市場龍頭將於虛擬展間展示最新V93000 Exa Scale™測試系統等端到端解決方案
2020年12月10日--半導體測試設備領導供應商愛德萬測試 (Advantest Corporation) (TSE: 6857) 將於東京時間2020年12月14～17日，參與史無前例的首場線上虛擬日本東京國際半導體展 (SEMICON Japan)，並展示十多種最新測試解決方案及產品。
愛德萬測試很榮幸再度成為SEMICON Japan黃金級贊助商，並贊助SMART行動力 (SMART Mobility) 與SMART勞動力 (SMART Workforce) 議程，以及專為學子開設的「未來學院」(Mirai College)。愛德萬測試執行董事Koichi Tsukui將於SMART Mobility 2致詞，同場還將邀請博世 (Bosch) 和MIRISE Technologies高層，探討自動駕駛和半導體科技的演進。
虛擬展示
愛德萬測試將在虛擬展間展示多元豐富的測試解決方案與服務，揭露其如何在不斷演進的半導體價值鏈中提升客戶價值。
● 最新：V93000 EXA Scale™系統單晶片 (SoC) 測試系統，能測試運算效能達百萬兆級 (Exascale) 的數位IC。
● 最新：擴充T2000平台功能的3款模組──4.8GICAP CMOS影像擷取模組、500MDM數位模組、DPS32A電源供應模組。
● 最新： 愛德測試雲端解決方案 (Cloud Solutions™)，最先進的雲端生態系，讓用戶能管理測試與設備資料，方便進行線上訓練或使用線上服務工具。
● 最新：H5620高生產力記憶體測試機，將預燒 (burn-in) 和記憶格 (memory-cell) 測試功能整合於單一系統中。
● 能檢測所有SSD的MPT3000系列測試系統。
● 針對包括次世代LP-DDR5與DDR5元件等超高速記憶體IC而推出的T5503HS2測試系統。
● 預燒記憶體測試機B6700產品家族。
● 支援遠距操作之測試分類機，從工程實驗室便能遙控生產測試現場進行元件和資料處理。
● 有助提升整體測試效率及協助測試機自動化之軟體工具與服務，包括Advantest CONNECT+，提供快速且容易上手的線上支援。
● 為量測次世代光罩而設計之高階多視角量測掃描式電子顯微鏡 (MVM-SEM®) E3650。
● 涵蓋設備整修及租賃之融資服務。
技術發表
除了虛擬展示外，歐洲愛德萬測試公司 (Advantest Europe GmbH) 產品行銷主管Markus Knoch亦將於東京時間12月17日上午10：30～11：00，在「SEMI企業解決方案」(SEMI Business Solution) 議程期間，以「百萬兆級運算時代下的測試作業」(Testing in the Age of Exascale Computing) 為題發表演說。Knoch將探討未來高效能運算元件測試可能面臨的挑戰，也介紹ATE如何開創契機，幫助提升從設計到量產的整個工作流程。
社群媒體
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關於愛德萬測試
愛德萬測試 (TSE: 6857) 是自動化測試與測量設備領導製造商，旗下產品用於5G通訊、物聯網 (IoT)、自駕車、人工智慧 (AI)、機器學習、智慧醫療裝置等應用所需之半導體的設計和生產。現今全球最先進的半導體生產線均採用愛德萬測試領先業界的系統與產品。此外，愛德萬測試亦投入研發，解決接踵而來的測試挑戰應用，並生產光罩製造最重要的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。1954年於成立於東京的愛德萬測試，是在全世界都設有據點的國際企業，更對跨國永續生產與企業社會責任作出承諾。進一步資訊請上公司網站：www.advantest.com。
