每一代的 PCI Express 變得更快也更複雜，PCI Express 3.0 以 8 Gb/s 速度測試時涉及複雜的 Rx 壓力條件、BER 相容性測試，以及眾多的 TX 相容性測試，而完整的測試支援則還需要在設計失敗時能進行除錯。據最新消息指出，Tektronix 現在提供業界最完整的支援水準，如 PCI Express 3.0 的 PHY 層的自動化測試和除錯。
Tektronix 高效能示波器部門總經理 Brian Reich 表示：「PCIe3 的許多方面測試，如鏈結訓練和 Tx 等化特性是非常複雜的，也不容易被設計界理解。透過這一個強大的自動化套件，我們可以輕鬆進行複雜的 PCIe3 測試，並確保獲得更一致的結果。也就是說，像壓力眼狀圖校驗和發射器相容性測試這類時間長又複雜的測試，並非只有資深工程師才能執行。」
自動化 PCIE3 Rx 測試，可根據 PCI-SIG 測試規格產生所需的壓力圖，現在包括時脈倍頻和眼狀圖張開度測試的完整支援。此外，DUT 迴路控制自動化，簡化了測試過程，並縮短獲得測試結果的時間。除可將預加強新增到壓力圖的全新 DPP125C 這些增強功能外，還有結合可變的 ISI 的全新 BSAITS125 整合干擾，以及新的 BSAPCI3 自動校驗、迴路和鏈結訓練軟體。其他組成完整 Rx 解決方案的元件，包括 Tektronix AFG3000 任意波形/函數產生器的共模干擾測試，以及世界級的 CR286A 系列時脈還原裝置的 PLL 迴路頻寬解決方案。換言之，BERTScope 這些補充功能並不需要協力廠商的附加元件就能進行。
對於 PCIe3 Tx 測試，Tektronix 透過下列方式來增強其解決方案，將 PCI-SIG 的 SigTest 公用軟體 (適用於相容性測試)，直接整合到 Tektronix DSA70000 系列數位示波器的 TekExpress 自動化平台系統上。透過這些整合，更新的 PCE3 軟體能自動測試儀器，並利用 SigTest 進行 DUT 控制、碼型驗證、資料擷取和分析，以及允許自訂多個 SigTest 測試結果報告，而且在相容性測試失敗時隨即提供除錯。
如需瞭解適用於 PCI Express 3.0 Tx 和 Rx 測試的全系列 Tektronix 電氣相容性、除錯和驗證解決方案 (含 30 分鐘摘要影片)，請造訪：http://www.tek.com/technology/pci-express。
供貨狀況
Tektronix PCI Express 3.0 Tx、Rx 測試和除錯解決方案現已全球發行。
Tektronix簡介
六十多年來，工程師使用Tektronix的測試、量測與監控解決方案，以解決設計挑戰，提高生產力和大幅縮短產品上市時間。Tektronix是一家領先的測試儀器供應商，為專注於電子設計、製造及先進技術開發的工程師提供支援。Tektronix的總部設在美國俄勒岡州畢佛頓，為全球範圍內的客戶提供備受讚譽的服務和支援。如需獲得最先進的技術，請至網站www.tektronix.com.tw。
