2012年11月8日-- NI 發表 NI PXIe-5632 VNA，這款經過最佳化的產品可協助工程師滿足日趨複雜的 RF 測試需求，而且相較於傳統的機架堆疊式解決方案，必要的成本、時間、體積都有所減少。全新的 PXIe VNA 採用創新的雙源架構，頻率範圍則是 300 kHz 到 8.5 GHz，可獨立調整來源且具備來源存取迴路，適用於各式各樣的量測應用。
「NI 持續投資 RF 與微波儀器，將 PXI 的使用範圍拓展至高階應用」，NI 的 RF 研發副總裁 Jin Bains 說明：「NI PXIe-5632 VNA 豐富的功能組合有助於大幅降低網路量測成本，尤其是需要精確量測、高速量測與小型體積的大量自動化測試應用。」
產品特色
l 雙埠的 3 槽式 PXI Express VNA 可提供 300 kHz 到 8.5 GHz 的頻率範圍
l 可以 0.01dB 為單位設定 -30dBm 到 +15dBm 的功率範圍，進而量測運作裝置的壓縮與 S 參數
l 雙源架構搭配來源存取迴路，可用於脈衝式 S 參數量測與更廣的來源功率範圍
l 頻率偏移功能採用可獨立調整的來源，以便量測頻率轉移裝置與最新的 S 參數
l 領先業界的程式設計介面，可用於 NI LabVIEW、ANSI C、.NET，簡化設計流程之餘，還可以加快測試開發速度，確保 RF 量測的品質
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從 1976 以來，NI (www.ni.com) 就針對產能、創新、開發等作業，提供工程師與科學家高效率的工具。NI 圖形化系統設計 (GSD) 為軟、硬體的整合平台，可加速開發任何量測與控制系統。NI 公司放眼於客戶、員工、股東、供應商的成功，以科技支援並改善目前的社會環境。
