多功能T2000 8GDM可支援各種SoC介面測試，資料傳輸率高達8 Gbps，主要功能包括時脈資料回復 (CDR)、抖動注入、I/O死帶消除、多重閃控操作等。此模組涵蓋在T2000增強型性能解決方案 (EPP) 中，具功能性測試抽象化功能，將進一步縮短週期時間並簡化除錯。
愛德萬測試SoC測試事業體執行長暨執行副總裁Toshiyuki Okayasu博士表示：「全新T2000 8GDM的密度更高，效能更強大，支援多重時域高速介面的複雜SoC裝置測試，並具備專為系統層次的功能性測試所設計的FTA功能，可望讓我們在此市場中擴大市佔率。」
愛德萬測試所研發的模組與測試機，不僅擁有高效能運作能力，更可提供高產能、多使用者環境以及並列同測功能，達到降低測試成本、加速上市的目標，是半導體廠商面對全球佈局挑戰不可或缺的設備。
關於愛德萬測試 (Advantest Corporation)
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術之發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
