2013年6月25日--半導體測試設備領導者愛德萬測試今日推出全新T2000 8GWGD測試設備，提供結合每秒採樣速率達8千兆 (Gsps) 的波形產生器和8 GHz數位器之模組，可應用於HDD硬碟等巨量儲存裝置中的系統單晶片 (SoC) 測試。
愛德萬測試SoC事業資深副總裁Hans-Juergen Wagner表示：「在SoC測試領域，愛德萬測試一直是業界領導者，現今全球所生產的SoC中有半數以上都是採用我們的設備進行測試。如今面對一日千里的雲端運算市場，客戶可透過這套全新測試機台駕馭雲端運算數十億顆硬碟、全球無可計數的伺服器陣列。」
T2000測試機台提供8GWGD (8Gsps 波形產生器 / 8GHz數位器模組) 與8GDM (8Gbps 數位模組)，可處理儲存巨量資料的SoC內部高速SerDes實體層 (PHY) 介面與複雜高速的類比波形挑戰。
這套新模組可透過任意波形產生器 (AWG) 產生PRML (Partial Response Maximum Likelihood，最大回應可能可能性) 波形等複雜訊號，及多種頻率的多頻波形，測試高速類比轉數位轉換器和類比前端設備 (包括前置放大器)。其獨特之處在於閘輸出可與AWG同步化，實現高精準度計時。
此套新模組的訊號擷取數位器可提升系統產能、執行高頻寬類比量測，同時也為眼圖、上升/下降時間、時間傳播延遲量測、週期抖動 (Cycle-to-Cycle Jitter) 和累積性抖動(Long-Term Jitter) 提供測試解決方案。透過這些功能，客戶將能測試高速數位轉類比轉換器和前置放大器，及高速數位介面和鎖相迴路 (PLL) 設備。
關於愛德萬測試 (Advantest Corporation)
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術之發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
