2013年6月27日--半導體測試設備領導者愛德萬測試宣佈推出最新智慧化生產測試系統解決方案TFI 2.0，這套系統主要針對半導體測試過程所產生的大量資料加以探勘及分析，以提高生產測試作業的總體設備效效能 (OEE)。
愛德萬測試全球測試量產軟體解決方案行銷總監Steve Ledford表示：「要獲得最佳化總體設備效能(OEE)並非易事，這必須結合大量資料來源、快速分析能力和自動化流程控制，才能使測試機台利用率、測試時間、維護週期與有效良率達到最佳化狀態。這套TFI 2.0是我們提供可被所有測試機台存取的單一伺服器，提供整合的資料收集與報表功能的第一步，客戶亦能在此開放式具彈性的解決方案架構下，來整合工廠的現存系統。」
愛德萬測試第二代TFI解決方案主要功能在於，執行即時資料收集、控管，並提供線上報表功能，方便測試現場主管人員隨時評估測試機台利用率、設備狀態、故障偵測、有效良率與其他關鍵操作參數條件；此外，此系統亦提供問題偵測功能，找出測試程式、介面硬體和測試設備潛在問題，避免產能受到影響。
這套軟體解決方案可管理現今自動化測試設備 (ATE) 所產生的大量資料，除了傳統測試資料記錄檔所記載的資訊之外，還包括即時設備狀態和運作狀況、維護記錄與測試機台配置設定。它提供了前所未見的互動性、自訂功能性和可擴展性，更能處理高達TB規模的測試資料量。
Infrastructure Advisors產業分析師兼諮詢顧問Ron Leckie表示：「總體設備效能現已是半導體廠與封測代工廠 (OSAT) 相當重視的議題，各家廠商無不想盡辦法要達到測試流程最佳化，雖說多元件同測(multi sites)可大大提升設備效率，不過若要再進一步大幅提升，無疑必須仰賴新一代軟體工具主動監視並控管整體測試流程，包括從自動化測試設備、分類機、針測機，到介面硬體、測試程式和測試作業。」
這套專為業界主要IC設計公司、封測代工廠和半導體晶圓代工廠所設計的TFI 2.0，將於2013年7月在全球上市。
關於愛德萬測試 (Advantest Corporation)
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術之發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
