2013年7月16日--半導體測試設備領導者愛德萬測試宣佈推出採V93000平台為基礎的行動電源管理IC (PMIC) 測試解決方案，以業界最具成本效益之優勢進軍系統單晶片 (SoC) PMIC測試市場。此套解決方案相容於愛德萬測試廣受全球企業客戶採用的V93000系統，可對具有嵌入式電源管理核心的複雜SoC元件和單邊引腳封裝 (Single In-Line Package；SiP) 進行大量多點測試。
以行動電源管理IC元件而言，測試機台不僅要執行大量複雜測試，包括高達2,000次元件特性分析測試、500次設計驗證測試及300次量產測試，且必須配備各式各樣功能，才足以因應SoC將類比與數位電路整合在同一顆IC上並納入電源管理功能的高端設計需求。
愛德萬測試全新V93000行動電源管理IC測試解決方案提供具可擴充性的低測試成本架構，透過高密度模組進行大量並行同測。為提供最大測試彈性與最大經濟效益，測試機台採用全新高密度元件電源供應DPS128設計，每個模組配有128個電壓/電流 供應 (VI) 通道，可精確地供應與量測電壓與電流；此解決方案亦採用愛德萬測試Pin Scale 1600數位模組的通用腳位(Universal Pin)架構，同時兼具高速數位(High Speed Digital)能力、精準直流電(Precision DC)的供應與量測功能，為行動電源管理IC測試最佳選擇；另外，其每根腳位獨立的時間量測單元 (Per-pin TMU) 更能有效率地量測今日先進電源管理元件需求如高切換頻率、工作週期、上升/下降時間等功能。其配備組成可隨需要調整與擴充，以符合未來測試需求。
愛德萬測試這套高密度測試解決方案是專為可攜式裝置最新電源管理技術所設計，如多重供應電壓 (Multi-Supply Voltage；MSV)，此技術透過提供多個電源域，使電流分開配置使用，並利用電源供應關閉 (Power-Supply Shut Off；PSO) 設計，在電源處於待命狀態時，保留個別電源區塊，以延長電池使用壽命。
愛德萬測試SoC事業資深副總裁Hans-Juergen Wagner表示：「這套全新V93000行動電源管理IC測試解決方案不僅具備絕佳效能，更能讓客戶以經濟實惠的成本達到加速產品上市目標。由於PMIC技術不斷創新，元件的複雜性也會隨之增加，V93000可望成為PMIC的標準測試解決方案。」
愛德萬測試V93000行動電源管理IC測試解決方案預計今年內開始出貨。
關於愛德萬測試 (Advantest Corporation)
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術之發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
