2013年7月29日--半導體測試設備領導者愛德萬測試發表多功能NEO-SSD平台，揮軍高階PCI Express (PCIe) 3.0 NVMe 企業級/消費性應用固態硬碟 (SSD) 測試市場。愛德萬測試以此平台為基礎開發了一系列測試解決方案，預定於今年 (2013) 第四季開始向客戶出貨。此NEO-SSD平台可隨需設定，支援多種通訊協定，具備各種SSD系統等級測試功能，包括工程驗證、設計驗證、可靠性驗證與生產測試。
根據預估到2017年時，SSD的市場規模將成長5倍，數量將超過2億，目前SSD在市場上的推廣應用仍處於初期發展階段，裝置通訊協定與測試策略也還在調整中，因此必須仰賴具備高效能和彈性的有效測試解決方案。
NEO-SSD平台採用愛德萬測試的Tester-per-DUT 獨立架構，可讓客戶根據本身的特別需求平衡成本與效能。這套系統可支援各種大小的被測設備，例如硬碟、介面卡以及各種通訊協定，包括PCIe 3.0介面。隨著資料中心、桌面電腦、Ultrabook與行動電子裝置的匯排流應用標準興起，PCIe造成測試市場來不及因應，因為它需要多種版本的新通訊協定支援 (如PCIe NVMe、AHCI、UFS與SAS)，且需以全效能運轉提供更高匯排流速度，還須有進一步控制元件電源供應的能力，這些需求必須透過高效多通訊協定測試解決方案，才能以高延展性與經濟效益達成大量量產高品質SSD的目標。
愛德萬測試美國子公司Advantest America GTRI副總裁Colin Ritchie表示：「NEO-SSD平台讓我們得以率先開發出業界第一套真正具有延展性、以平台為基礎的SSD測試解決方案，為客戶提供低成本、高測試效能、快速作業能力與高度訊號完整性等效益。此外，採用Tester-per-DUT架構的NEO-SSD機台不必與其他設備共用資源，而能創造出突破性企業級效能與品質，且絲毫不影響測試週期或測試範圍。」
關於愛德萬測試 (Advantest Corporation)
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術之發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
