2013年11月27日--半導體測試設備領導者愛德萬測試宣佈推出全新T2000 ISS IPE2系統， 新系統大幅加快影像處理時間，縮短現今智慧型手機、平板電腦、數位相機攝影機所用高像素高階CMOS影像感測元件測試時程，進而降低元件單位成本，讓客戶推出更具價格競爭力的消費性電子產品。
T2000平台全新測試模組搭載四核心CPU，影像處理引擎更強大，同步測試元件可分別利用不同獨立引擎進行測試，高像素高階CMOS影像感測元件測試時間將能降低46%之多。
愛德萬測試執行副總裁Satoru Nagumo表示：「這套全新高速影像處理系統是專為因應高像素、高畫質CMOS影像感測元件趨勢所開發，其強大功能不僅可滿足現今業界迫切需求，更能讓客戶從容面對未來挑戰。」
愛德萬測試全新T2000 ISS IPE2系統已開始向全球客戶出貨。
愛德萬測試全新T2000 ISS IPE2為高階CMOS影像感測元件提供更強大影像處理能力。
關於愛德萬測試 (Advantest Corporation)
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術的發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
