2014年3月7日--半導體測試設備領導者愛德萬測試宣佈推出兩套全新測試模組：32埠WLS32-A模組與16埠WLS16-A模組，以滿足手機與無線LAN裝置內支援802.11ac及LTE-Advanced行動通訊標準的射頻IC對高速、低成本測試的需求。這兩套模組完全相容於愛德萬測試廣為業界所用的T2000平台。
為因應現今最先進可攜式電子產品所面臨的各種調變挑戰，這兩套新模組採用向量信號產生 (VSG) 與向量信號分析 (VSA) 軟體，可提供80 MHz寬調變頻寬，並結合波形產生軟體與調變分析軟體，支援802.11ac與LTE-Advanced通訊協定測試。
愛德萬測試SoC測試事業體執行長暨執行副總裁岡安俊幸表示：「這兩套新推出的模組展現了我們不斷為客戶帶來更多元測試解決方案，協助他們以最低成本因應大量無線通訊市場挑戰的努力。」
T2000平台有著可擴充架構，無論任何半導體元件，客戶都可以隨時調整設定並更換模組，因此能滿足當前與未來的測試需求，提供市面上其他測試系統受限於特定設備配置所沒有的優勢。T2000測試系統系列已廣為世界一流整合元件製造廠、IC設計公司、晶圓封測試代工廠等半導體設計製造大廠所採用。
T2000 WLS32-A與WLS16-A模組預計今年第二季開始出貨。
關於愛德萬測試 (Advantest Corporation)
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術之發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
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