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愛德萬測試發表最新數位量測模組,滿足超高速SerDes應用大量測試

本文作者:愛德萬       點擊: 2014-03-10 10:30
前言:

2014年3月10日--半導體測試設備領導者愛德萬測試宣佈發表最新數位量測模組「Pin Scale串列連結」(PSSL) 模組卡,此模組專為滿足現今高速半導體從事原速 (At-speed) 工程特性量測與大量生產製造所設計,資料傳輸率最高可達16 Gbps,為業界傳輸率最快的完整整合自動化測試設備。

全新「Pin Scale串列連結」(PSSL) 模組卡擁有超越愛德萬測試前一代Pin Scale模組卡的速度與效能,可提供經濟實惠的高階IC原速測試,且採用V93000 Smart Scale通用接腳架構,可針對元件每根接腳進行測試,且具備相當高的多組同測效能。
 
PSSL模組卡可將整體的運作細分至每隻接腳獨立設定,每隻可分別執行不同的資料傳輸率,為ATE業界前所未見的設計,因此能精準配合所有測試埠的時脈速度,對待測元件提供完整測試,完全不必犧牲接腳數或時序彈性。由於所有資源均能獨立並列執行,PSSL可說是大量生產的最佳選擇。正因為具備如此功能,PSSL可測試專為應用於基礎架構與網路處理所設計的高階IC,譬如用於10G/40G/100G 乙太網路或PCI Express (PCIe) 介面等的高速元件,甚或建置全中國LTE通訊基礎架構所需專有的10G16G背板SerDes技術所用的高階IC
 
除了領先業界的16 Gbps資料傳輸率外,PSSL還能支援所有實體層 (PHY) 測試法,譬如偽隨機位元流 (Pseudorandom Bit Stream) 的促發與回應、信號抖動注入與量測能力,同時也具備AC/DC分析功能,可滿足不同的測試需求並確保詳盡完整的測試涵蓋率。
 
愛德萬測試SoC事業資深副總裁Hans-Juergen Wagner表示:「要對現今最高速的IC介面進行完整測試,必須藉助可支援原速測試能力的解決方案,同時還要滿足客戶低測試成本需求,這套全新「Pin Scale串列連結」模組卡可提供現今業者所需的測試速度與效能,有助愛德萬測試進一步擴大在高速自動化測試設備市場的領導地位。」
 
愛德萬測試全新「Pin Scale串列連結」模組卡已獲得多家客戶訂單,並開始向客戶交貨
 
關於愛德萬測試 (Advantest Corporation)
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商,專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外,該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術之發展,積極開發新興市場,近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡,以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立,並在1982年於美國成立第一家子公司,迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com

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