愛德萬測試推出最新TAS7400TS太赫茲波光學取樣系統，加速研發實驗應用
前言：
功能隨需靈活配置，提供業界最高量測穩定性，價格平實可讓大量使用者輕鬆運用太赫茲波技術
2014年4月16日--半導體測試設備領導者愛德萬測試今日宣佈推出最新太赫茲波光學取樣系統TAS7400TS，可提供彈性架構，方便使用者自由配置太赫茲波源模組及偵測模組，打造超越群倫的多功能環境。該系統可結合量測太赫茲波波段三種不同光譜區間的太赫茲波源模組。
近年來，拜先進技術之賜，相關設備已能穩定產生並偵測太赫茲波 (亦即0.1 ~ 10 THz範圍內的電磁波)，不僅吸引業界對非破壞性分析及高速通訊應用的廣泛興趣，也讓他們更有意願進一步發展各種不同應用領域。
愛德萬測試全新TAS7400TS光學取樣系統可滿足市場日新月異的需求，讓客戶以平實價格獲得穩定且極精準的太赫茲波量測功能。TAS7400TS系統為低價多用途太赫茲波光譜分析系統TAS7400系列的最新產品，使用者可在平台上隨需配置，利用光纖引線將太赫茲波源及偵測模組連結到主機，且不受限地加裝這些模組，任意調整量測區。此外，也可在量測環境中加入取樣加熱系統、低溫系統、自動化取樣處理等相關輔助裝置，使太赫茲波研究開發工作如虎添翼，進而開啟太赫茲波技術未來發展的新契機。
TAS7400TS價格平實，1800萬日幣起即可輕鬆購入，太赫茲波技術不再遙不可及，讓更多使用者、更多領域，從製藥、生物技術延伸到新材料研發等，都能普遍應用。
左圖：TAS7400TS光譜取樣分析系統 右圖：結合愛德萬測試太赫茲波源及偵測模組進行平台配置
產品特性
■ 絕佳量測再現性
TAS7400TS採用與TAS7500TS高端太赫茲波光譜分析平台相同的愛德萬測試專利低抖動光纖雷射及獨有的類比訊號分析技術，可提供業界最佳量測穩定性，且取得相同量測值的變異性可達±0.03%。
TAS7400TS採用與TAS7500TS高端太赫茲波光譜分析平台相同的愛德萬測試專利低抖動光纖雷射及獨有的類比訊號分析技術，可提供業界最佳量測穩定性，且取得相同量測值的變異性可達±0.03%。
■ 太赫茲波源模組系列涵蓋多種應用
TAS7400TS平台可結合三種不同波源模組，這三種模組分別涵蓋不同波段：TAS1110量測頻率範圍為0.1 - 4THz (基本)、TAS1120量測頻率範圍為0.03 - 2THz (低頻)、TAS1130量測頻率範圍為0.5 - 7THz (寬頻)。這些模組也可在TAS7500TS平台上通用。
TAS7400TS平台可結合三種不同波源模組，這三種模組分別涵蓋不同波段：TAS1110量測頻率範圍為0.1 - 4THz (基本)、TAS1120量測頻率範圍為0.03 - 2THz (低頻)、TAS1130量測頻率範圍為0.5 - 7THz (寬頻)。這些模組也可在TAS7500TS平台上通用。
關於愛德萬測試 (Advantest Corporation)
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲波 (terahertz) 技術之發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站 www.advantest.com。
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲波 (terahertz) 技術之發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站 www.advantest.com。
