NI 樹立 SMU 新標竿 推出 NI PXIe-4139 系統電源量測單位，NI SMU 系列的高效能產品
前言：
相較於類似的箱型儀器，NI PXIe-4139 以至少兩倍的通道密度提供 100 倍的取樣速度。
2014年5月15日--NI 美商國家儀器近日推出 NI PXIe-4139 系統電源量測單位 (SMU)，NI SMU 系列的高效能產品。這款 SMU 可協助測試工程師縮短整體的測試成本，同時加快上市速度，適用於半導體、汽車、消費型電子等多種產業。
「有了 NI PXIe-4139，工程師和科學家即可享有廣大的 IV 範圍，像是高達 500 W 的脈波產生功能，以及 100 fA 的靈敏度，透過單一儀器即可測試多種裝置」，NI 測試系統的資深部門經理 Luke Schreier 表示：「NI PXIe-4139 的精巧機身也是關鍵之一：相較於舊款箱型儀器的 SMU，有助於大幅減少系統體積。」
NI PXIe-4139 搭載了 NI SourceAdapt 技術，可幫助工程師客制化 SMU 控制迴路，針對各種負載產生最理想的 SMU 響應。這麼做有助於保護待測裝置，提高系統的穩定性。此外，NI PXIe-4139 系統 SMU 可以 1.8 MS/s 的速度執行量測，比傳統的 SMU 快了 100 倍，不但能夠縮短測試時間，還可以幫助工程師掌握暫態裝置的行為，不需要額外設備。
「如果想要隨時掌握越來越複雜的現代電子裝置，就會需要全新的儀器思維」，Schreier 指出：「有了 SourceAdapt 技術，再加上 PXI 模組化儀器和 NI LabVIEW 系統設計軟體固有的優勢，工程師即可縮短測試時間、保護待測裝置，藉此享有絕佳的競爭優勢。」
重點功能
• 100 fA 的電流量測靈敏度：針對高效能半導體裝置執行精準的特性測試。
• 1.8 MS/s 取樣率：掌握暫態裝置特性，不需要額外設備。
• 4U 的 19 吋機箱空間可容納高達 17 個 SMU 通道：盡可能降低多通道數系統的體積。
• SourceAdapt 技術：縮短暫態時間，藉此縮短整體的測試時間，保護待測裝置不會因為過衝和震盪而受損，就算是高電感或高電容負載也一樣。
有關 NI 美商國家儀器
從 1976 年以來，NI (www.ni.com) 就針對產能、創新、開發等作業，持續提供高效率的工具給工程師與科學家。NI 圖形化系統設計 (GSD) 為整合式的軟硬體平台，可提高各種量測與控制系統的開發速度。NI 提供完整的生態系統，其中納入各種服務、支援與 700 名以上的聯盟夥伴，進而協助客戶成功開發系統。公司設定了長期願景，並且致力於透過技術為社會盡一己之力，進而協助員工、股東與供應商蒸蒸日上。
