2014年6月25日--半導體測試設備領導者愛德萬測試發表可提升T2000測試平台進行系統單晶片 (SoC) 元件測試效率的全新數位模組T2000 1.6GDM。
這套模組每秒傳輸速率可達1.6GB，它利用新開發的FTA+ (Functional Test Abstraction Plus) 功能自動辨識通訊協定，讓測試平台能以每顆IC不同的通訊協定語言直接與待測物 (DUT) 通訊，在資料傳輸過程中，透過強大的EDA連結功能FTA-Elink使設計模擬器直接與T2000測試平台連結。不僅如此，Verilog程式碼也能在安裝1.6GDM模組的T2000 EPP系統上執行。T2000測試平台的圖像產生器(Pattern Generator)搭載擁有獨立計時與記憶功能之自動辨識通訊協定引擎，能夠直接量測透過通訊協定傳輸資料的I/O，高效率執行多組元件同測，使研發時間相對大幅縮短，進而加速產品上市。
這套模組每秒傳輸速率可達1.6GB，它利用新開發的FTA+ (Functional Test Abstraction Plus) 功能自動辨識通訊協定，讓測試平台能以每顆IC不同的通訊協定語言直接與待測物 (DUT) 通訊，在資料傳輸過程中，透過強大的EDA連結功能FTA-Elink使設計模擬器直接與T2000測試平台連結。不僅如此，Verilog程式碼也能在安裝1.6GDM模組的T2000 EPP系統上執行。T2000測試平台的圖像產生器(Pattern Generator)搭載擁有獨立計時與記憶功能之自動辨識通訊協定引擎，能夠直接量測透過通訊協定傳輸資料的I/O，高效率執行多組元件同測，使研發時間相對大幅縮短，進而加速產品上市。
搭載1.6GDM的多功能T2000 EPP可提高多組待測物 (DUT)並行同測效能，並能獨立監控和評估各待測物的功能。
這套全新數位模組提供了向量模式，不僅完全相容於愛德萬測試現有1GDM數位模組，且在產能與穩定性表現上皆優於現有模組。
愛德萬測試SoC測試事業執行長暨執行副總裁岡安俊幸博士表示：「這套全新數位模組將使T2000機台客戶不僅享有平台本身擴充性所帶來的高報酬效益，更能獲得優於過去的功能與產能，大幅降低測試成本。」
T2000 1.6GDM模組預計八月開始出貨。
關於愛德萬測試 (Advantest Corporation)
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術之發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術之發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
