愛德萬測試推出元件電源供應模組，提升T2000測試平台多功能性與成本效益
前言：
全新DPS150AE模組提供高產能、多組元件同測功能，同時支援高低電流輸出
2014年7月21日--半導體測試設備領導者愛德萬測試宣佈推出T2000增強型元件電源供應模組DPS150AE (Enhanced Device Power Supply 150A)，滿足T2000測試平台客戶對於微處理器 (MPU)、特殊用途積體電路 (ASIC)、現場可編程邏輯閘陣列 (FPGA) 等高電流與低電壓半導體的高度精確測試需求。DPS150AE模組將有助於T2000平台以最低測試成本提升高產能、多組元件同測的測試效能。
DPS150AE模組可大幅提升T2000 EPP系統的測試多功能性，目前提供直接隨附安裝，或在購入T2000 EPP系統後另行添購升級原系統。這套模組採用高速匯流排技術，並結合愛德萬測試的Smart Test Condition Memory (TCM)，讓T2000 EPP系統能夠進行模組分割，以一個模組並行同測多個元件，同時分別監控評估每個待測物。
此外，DPS150AE還能隨需設定測試條件，再透過TCM快速調整測試，測試工程師不僅可預先載入所有測試程式的參數，也能進行編輯，根據圖形立即更改設定。
DPS150AE針對高低電流各提供八個通道，高電流通道最高支援16安培大電流輸出，低電流通道最低支援2.66安培電流輸出。DPS150AE另有一項功能可並行連結外部多達80個高電流通道，每個通道輸出16安培，共可產生1,280安培。
愛德萬測試SoC測試事業執行董事暨執行副總裁岡安俊幸博士表示：「這套全新元件電源供應模組具備極高並行同測能力，支援多個電源域，可快速測試各種不同IC，成本效益極高，讓客戶能夠靈活應用，降低測試成本，加速開發出最新元件設計。」
DPS150AE模組預計八月開始出貨。
關於愛德萬測試 (Advantest Corporation)
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術之發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術之發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
