2014年11月26日--半導體測試設備領導者愛德萬測試推出T2000平台最新多功能參數量測儀 (PMU) 模組T2000 PMU32E，進一步提升數位、類比與電源管理系統單晶片 (SoC) 元件的測試效能。全新模組PMU32E具備高密度32通道，可與愛德萬測試原有PMU32模組完全相容 (即使兩模組使用相同測試機台介面單元 (tester interface unit；TIU))，且能提供高於現有模組兩倍之解析度與精準度。T2000測試系統結合全新PMU32E模組，將能在量測精準度、安裝時間與連結功能方面達到極高水準，媲美T2000 EPP系統效能。
愛德萬測試SoC測試事業執行董事暨執行副總裁岡安俊幸表示：「我們在這款全新參數量測儀模組上提供了更高效能，讓客戶能以較低投資成本獲得EPP測試系統功能。」
T2000 PMU32E不僅量測時間較現有模組快上一倍以上，尤其在直流電線性量測時間方面，更因為取樣率與資料傳輸速度的提升而大幅縮短。量測速度的加快，使得測試產能能夠明顯提高，整體測試成本也隨之降低。
此套新模組另一個進一步改善操作效率的優勢，在於能夠執行針對現有PMU32模組所開發的測試程式；除此之外，PMU32E提供了兩倍之多的記憶體容量，讓不受通道之限的任意波形產生器 (AWG) 與數位器增添更多功能。
PMU32E亦支援晶片內建穩壓器 (on-die regulator；ODR) 連同其ISVM (電流源暨電壓量測) 連結功能的載入測試。
愛德萬測試全新PMU32E模組預計於2015年第一季開始出貨。
關於愛德萬測試 (Advantest Corporation)
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術的發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術的發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
