2014年12月11日--半導體測試設備領導者愛德萬測試推出最新測試分類機M6245，採用該公司最新先進技術處理雙倍資料傳輸率記憶體 (DDR) 與快閃記憶體元件，大幅降低設備停機時間，產能效率領先業界。
愛德萬測試工廠自動化事業部長Hiroki Ikeda表示，此款最新分類機進一步全面提升定位精準度、產能與溫控能力，高階記憶體IC測試效率將可達到業界最高水準。
M6245分類機內建視覺化校準系統，校準精確度可達0.3 mm 錫球間距 (ball pitch) 之內，不僅有助於測試良率向上提升，且滿足微細間距的記憶體IC分類需求，其高精準校準功能亦縮短了設定與校正時間，進而提高系統產能。
全新設計的M6245所帶來的效益還包括︰可透過視覺化校準功能處理微細間距元件，確保產能極大化；機械性調準功能則能處理現有間距元件分類，同樣可將產能提升至最高。
M6245能夠創造極大化的產能效率，除了歸功於高度自動化設計。還提供自動重測功能, 進而減輕操作人員工作量，同時確保達到最高良率。
M6245採用愛德萬測試專有的最新溫控技術「Dual-fluid design」，凡測試溫度在-20˚C到100˚C 之間，待測物設定溫度精準度可維持在±1˚C之間；溫度範圍在-40˚C到-20.1˚C之間，或100.1˚C到125˚C之間，則溫度精確度可維持在±2˚C之間。這項技術提供了極廣的測試溫度範圍支援，讓記憶體IC得以進行極精準的測試。
此外，M6245還採用了愛德萬測試全新分類機資料視覺化架構，只要透過網路就能即時監控測試機台生產進度及狀況。
M6245分類機預計於2015年第一季開始陸續出貨。
關於愛德萬測試 (Advantest Corporation)
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術之發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術之發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
