2025年2月12日--半導體測試設備領導供應商愛德萬測試 (Advantest Corporation) (TSE:6857) 今日隆重發表T5801超高速DRAM測試系統。這套尖端的平台專為支援GDDR7、LPDDR6和DDR6等高速記憶體最新技術而設計，關鍵在於滿足人工智慧 (AI)、高效能運算 (HPC) 和邊緣應用等不斷成長的需求。
日益複雜且高速的記憶體技術正推動資料中心與AI效能發展持續突破，最新T5801平台正是為了因應此挑戰而誕生，為最高速度的記憶體元件實現精準、有效率的大量測試。這套採用創新前端單元測試 (FEU) 架構的系統，專門針對次世代DRAM模組的嚴格需求，能達到領先業界的36Gbps PAM3與18Gbps NRZ優異效能。
愛德萬測試ATE事業群記憶體測試事業本部長鈴木雅之指出：「隨著AI加速器與邊緣運算持續演進，記憶體頻寬將成為整體系統效能的發展瓶頸， T5801協助我們的顧客以準確、快速又可靠的方式驗證次世代DRAM 效能，確保他們的產品能快速上市。」
T5801平台建立在愛德萬測試領先市場的DRAM測試解決方案基礎之上，包括已獲驗證的T5503系列與V93000HSM系統。T5801支援PAM3，創下JEDEC標準DRAM首例，凸顯它因應GDDR7等記憶體創新的實力，也是想在所有AI環境實現超低延遲表現的關鍵。T5801可擴充的測試基礎架構能做到從工程研發到生產流程的無縫接軌，提供靈活配置，並與現有分類機和介面完全相容。
T5801 DRAM測試系統目前已獲部分記憶體戰略客戶採用，預計明年初於全球市場推出。
更多有關超高速T5801及愛德萬測試ATE暨材料全產品資訊，請於2月19至21日蒞臨假南韓首爾COEX商場舉辦的2025韓國國際半導體展 (SEMICON Korea 2025) 第P201號攤位洽詢。
編輯註釋：
GDDR7 = Graphics Double Data Rate 7 (第7代繪圖用雙倍資料速率)
LPDDR6 = Low Power Double Data Rate 6 (第6代低功耗雙倍資料速率)
DDR6 = Double Data Rate 6 (第6代雙倍資料速率)
PAM3 = Pulse Amplitude Modulation 3 (3級脈衝振幅調變)
關於愛德萬測試
愛德萬測試 (Advantest Corporation) (TSE: 6857) 為自動化測試與量測設備領導製造 商，旗下產品應用於各類 半導體設計和生產流程，領域涵蓋 5G 通訊、物聯網 (IoT)、自駕車，以及包括人工 智慧 (AI) 和機器學習在 內之高效能運算 (HPC) 等，其領先業界的系統和產品獲全球客戶信賴，整合至世界各 地最先進的半導體生 產線。為了因應接踵而來的測試挑戰和不斷推陳出新的應用，愛德萬測試也積極投入研 發，不僅針對晶圓 測試和最終測試開發先進測試介面解決方案，也生產光罩製造過程中最重要的掃描式電子 顯微鏡 (SEM)， 並提供系統級測試解決方案和其他測試相關周邊設備。1954 年創立於日本東京的愛德萬測試， 已成為在世 界各地都有據點的全球化企業，同時秉持對國際社會的承諾，致力於實踐永續願景和社會責任。 更多資訊 請上：www.advantest.com
